1.一种半导体激光芯片的测试设备，包括基台(1)，所述基台(1)顶端设置有台板(8)，所述台板(8)上开设有多个两两为一组的置物孔(3)，其特征在于，所述基台(1)一侧转动安装有可固定至水平状态的翻转置物组件(2)，所述基台(1)顶端两侧均开设有滑槽(4)，两个所述滑槽(4)内安装有转运机构(7)，两个所述转运机构(7)的移动端之间固定有顶板(5)，所述顶板(5)的底部安装有与所述置物孔(3)相对应的真空吸笔(6)；

所述台板(8)的底部设置有固定在所述置物孔(3)底端的置物盘(12)，所述置物盘(12)外部套设有驱动环(11)，所述置物盘(12)底端固定有多个环形分布的托举臂(13)，所述驱动环(11)的底端外侧壁与所述托举臂(13)贴合；

相邻两组所述驱动环(11)之间设置有用于其自转的驱动机构(10)，所述置物盘(12)侧壁滑插有四个环形分布且可横向复位的夹持组件(15)，所述夹持组件(15)包括位于所述置物盘(12)内的抵紧件(151)，所述抵紧件(151)的一侧固定有滑插在所述置物盘(12)侧壁上的导向柱(154)，所述导向柱(154)上固定有凸环(152)，所述导向柱(154)上套设有抵紧弹簧(153)，所述抵紧弹簧(153)位于所述凸环(152)和所述置物盘(12)之间，所述驱动环(11)的内侧固定有多个与所述导向柱(154)端头相抵触的推动件(14)；

所述台板(8)的底部安装有振动组件(16)，所述振动组件(16)的顶端与所述置物盘(12)底端接触。

2.根据权利要求1所述的一种半导体激光芯片的测试设备，其特征在于：所述抵紧件(151)包括与所述导向柱(154)固定连接的抵紧块(1511)，所述抵紧块(1511)远离所述导向柱(154)的一侧开设有侧槽(1512)，所述侧槽(1512)内固定有倾斜设置的弹性伸缩杆(1513)，所述弹性伸缩杆(1513)远离所述抵紧块(1511)的一端固定有抵紧条(1514)，所述抵紧条(1514)的夹持面设置有抵紧斜面(1516)，所述抵紧斜面(1516)上开设有多个阶梯槽(1515)。

3.根据权利要求1所述的一种半导体激光芯片的测试设备，其特征在于：所述推动件(14)包括固定在所述驱动环(11)内侧壁上的凸块(141)，所述凸块(141)靠近所述导向柱(154)的一侧开设有弧形槽(142)，所述弧形槽(142)的内侧壁与所述导向柱(154)端头滑动抵触，所述凸块(141)靠近所述弧形槽(142)顶端和底端位置处设置有凸边(143)。

4.根据权利要求1所述的一种半导体激光芯片的测试设备，其特征在于：所述驱动机构(10)包括推杆(101)，所述推杆(101)的两侧均设置有齿带(102)，所述驱动环(11)的外侧壁固定有与所述齿带(102)啮合的凸齿(103)，所述推杆(101)外部套设有固定在所述台板(8)底部的导向槽板(104)，所述推杆(101)的一端固定有连接杆(17)，所述连接杆(17)的一侧与基台(1)内壁之间固定有电动伸缩杆(18)。

5.根据权利要求1所述的一种半导体激光芯片的测试设备，其特征在于：所述振动组件(16)包括固定在所述基台(1)内的底板(161)，所述底板(161)的顶端固定有电动升降杆(162)，所述电动升降杆(162)的顶端固定有升降板(163)，所述升降板(163)的顶部固定有与所述置物盘(12)相对应的振动器(164)，所述振动器(164)的顶端固定有托盘(165)，所述置物盘(12)底端开设有与所述托盘(165)相适配的底孔。

6.根据权利要求1所述的一种半导体激光芯片的测试设备，其特征在于：所述转运机构(7)包括安装在所述滑槽(4)内的伸缩气缸(71)，所述伸缩气缸(71)的伸长端固定有与所述滑槽(4)滑动配合的滑座(72)，所述滑座(72)的顶端固定有升降气缸(73)，所述升降气缸(73)的顶端与所述顶板(5)固定连接。

7.根据权利要求1所述的一种半导体激光芯片的测试设备，其特征在于：所述翻转置物组件(2)包括铰接在所述基台(1)顶端一侧的翻转板(21)，所述翻转板(21)上固定有置物板(22)，所述置物板(22)上开设有放置槽(23)，所述基台(1)一侧靠近所述翻转板(21)铰接位置处转动安装有挡止条。

8.根据权利要求7所述的一种半导体激光芯片的测试设备，其特征在于：所述基台(1)底端一侧开设有卡槽，所述卡槽内嵌设有与所述翻转板(21)磁吸配合的磁块(9)。