1.一种半导体芯片测试的辅助结构，包括底座(1)、夹持块(2)和两个插接块(3)，其特征在于：所述夹持块(2)位于底座(1)的顶部，两个插接块(3)分别位于夹持块(2)的前侧和后侧，所述插接块(3)的底部与底座(1)的内腔接触，所述底座(1)内腔的前侧和后侧均开设有放置槽(4)；

所述放置槽(4)的内腔设置有与夹持块(2)配合使用的定位机构(5)；

所述放置槽(4)的内腔设置有与定位机构(5)配合使用的传动机构(6)。

2.如权利要求1所述的一种半导体芯片测试的辅助结构，其特征在于：所述定位机构(5)包括两个定位杆(501)，所述定位杆(501)的底部固定连接有拉杆(502)，两个拉杆(502)相反的一侧均固定连接有拉簧(503)，所述拉簧(503)靠近放置槽(4)内壁的一侧与放置槽(4)的内壁固定连接。

3.如权利要求2所述的一种半导体芯片测试的辅助结构，其特征在于：所述传动机构(6)包括固定块(601)，所述固定块(601)前侧的左右两侧均固定连接有牵引杆(604)，所述牵引杆(604)后侧的表面与拉杆(502)的内腔接触，所述牵引杆(604)的前侧活动连接有活动块(602)，所述活动块(602)的前侧固定连接有传动杆(603)。

4.如权利要求3所述的一种半导体芯片测试的辅助结构，其特征在于：所述活动块(602)的左右两侧均固定连接有插接杆(7)，所述插接杆(7)的内腔活动连接有支撑杆(8)，所述支撑杆(8)的底部与放置槽(4)的内壁固定连接。

5.如权利要求2所述的一种半导体芯片测试的辅助结构，其特征在于：所述定位杆(501)的顶部固定连接有对接杆(9)，所述对接杆(9)的表面套设有对接块(10)，两个对接块(10)相反的一侧均与放置槽(4)的内壁固定连接。

6.如权利要求2所述的一种半导体芯片测试的辅助结构，其特征在于：所述底座(1)内腔的左右两侧均开设有连接孔(11)，所述插接块(3)内嵌的左右两侧均开设有定位槽(12)，两个定位杆(501)相反的一侧均穿过连接孔(11)并延伸至定位槽(12)的内腔。

7.如权利要求3所述的一种半导体芯片测试的辅助结构，其特征在于：所述底座(1)的前侧开设有活动孔(13)，所述传动杆(603)的前侧穿过活动孔(13)并延伸至底座(1)的前侧。