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专利号: 2023227440245
申请人: 南通米格半导体检测技术有限公司
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
更新日期:2026-08-04
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种用于半导体芯片检测的辅助定位装置,包括底板(1),其特征在于,所述底板(1)上转动连接有转轴(2),所述转轴(2)上固定连接有置物板(3),所述置物板(3)上固定连接有安装外壳(4),所述安装外壳(4)上转动连接有螺纹套管(5),所述螺纹套管(5)上固定连接有转动件(6),所述螺纹套管(5)上固定连接有锥形齿轮(7),所述螺纹套管(5)上螺纹连接有螺纹杆(8),所述螺纹杆(8)上固定连接有安装板(9),所述安装板(9)上固定连接有弹簧套(10),所述弹簧套(10)另一端固定连接有夹板(11),所述夹板(11)上固定连接有防滑垫(12),所述夹板(11)上固定连接有导向杆(13),所述导向杆(13)限位滑动连接在安装板(9)上,所述夹板(11)上固定连接有滑块(14),所述滑块(14)限位滑动连接在置物板(3)上,所述底板(1)上固定连接有防护外壳(15),所述防护外壳(15)内固定连接有推动弹簧(16),所述推动弹簧(16)另一端固定连接有限位板(17)。

2.根据权利要求1所述的一种用于半导体芯片检测的辅助定位装置,其特征在于,所述螺纹套管(5)对称分布在安装外壳(4)前后两侧与左右两侧,所述螺纹套管(5)通过转动件(6)与锥形齿轮(7)一一对应。

3.根据权利要求1所述的一种用于半导体芯片检测的辅助定位装置,其特征在于,所述螺纹杆(8)固定连接在安装板(9)一侧中心部位,所述安装板(9)底端面与置物板(3)顶端面相贴合。

4.根据权利要求1所述的一种用于半导体芯片检测的辅助定位装置,其特征在于,所述滑块(14)的横截面呈“T”形,所述转轴(2)上等角度开设有卡槽。

5.根据权利要求1所述的一种用于半导体芯片检测的辅助定位装置,其特征在于,所述限位板(17)上固定连接有卡杆(18),所述限位板(17)上固定连接有拉杆(19),所述卡杆(18)固定连接在限位板(17)一侧中心部位。

6.根据权利要求5所述的一种用于半导体芯片检测的辅助定位装置,其特征在于,所述限位板(17)侧端面与防护外壳(15)内侧面相贴合,所述卡杆(18)的中心线与转轴(2)上的卡槽中心线呈同一水平线。