1.一种集成电路测试装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的顶部中心处固定连接有测试台(2)，所述测试台(2)的顶部安装有夹持组件(3)，所述夹持组件(3)包括滑槽一(31)，所述滑槽一(31)开设在测试台(2)的顶部，所述滑槽一(31)的内部转动连接有双向丝杠一(32)，所述测试台(2)的侧壁固定连接有驱动器一(4)，所述驱动器一(4)的驱动端与双向丝杠一(32)的一端固定连接，所述底座(1)的表面开设有滑槽二(5)，所述底座(1)上安装有测试组件(6)，所述测试组件(6)包括两个安装座(61)，所述安装座(61)对称滑动安装在滑槽二(5)的两侧。

2.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于：所述滑槽一(31)的两侧分别滑动连接有滑块(310)，所述滑块(310)与双向丝杠一(32)螺纹连接，所述滑块(310)的侧壁安装有夹紧块(33)，所述夹紧块(33)与滑槽一(31)滑动连接，所述双向丝杠一(32)贯穿夹紧块(33)。

3.根据权利要求2所述的集成电路测试装置，其特征在于：所述滑块(310)与夹紧块(33)的相对一侧固定连接有连接弹簧(34)，所述夹紧块(33)的侧壁开设有斜槽。

4.根据权利要求2所述的集成电路测试装置，其特征在于：所述滑块(310)的侧壁固定连接有压力传感器一(35)。

5.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于：所述夹持组件(3)还包括安装槽(36)，所述安装槽(36)开设在测试台(2)的中心处，所述安装槽(36)的内部滑动连接有按压柱(37)，所述按压柱(37)的底部固定连接有支撑弹簧(38)，所述按压柱(37)的表面开设有供双向丝杠一(32)穿过的穿孔。

6.根据权利要求5所述的集成电路测试装置，其特征在于：所述安装槽(36)的底部固定连接有压力传感器二(39)。

7.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于：所述安装座(61)的顶部固定连接有测试仪器(62)。

8.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于：所述测试组件(6)还包括双向丝杠二(63)，所述双向丝杠二(63)转动安装在滑槽二(5)的内部，且双向丝杠二(63)与安装座(61)螺纹连接，所述底座(1)的侧壁固定连接有驱动器二(8)，所述驱动器二(8)的驱动端与双向丝杠二(63)的一端固定连接。

9.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于：所述安装座(61)的两侧分别固定连接有弹簧伸缩杆(64)，所述弹簧伸缩杆(64)的伸缩端固定连接有推板(65)。

10.根据权利要求9所述的集成电路测试装置，其特征在于：所述推板(65)的表面开设有若干个检测口(66)。