1.一种集成电路测试装置，包括集成电路测试座，其特征在于，所述集成电路测试座的顶部向内凹设有测试槽，所述测试槽内壁两侧相对设置有限位槽，所述限位槽内均滑动安装有滑块，两个所述滑块相互靠近的一端上均设置有卡块，两个所述滑块相互背离的一端上均安装有拉杆，所述拉杆延伸至集成电路测试座外并固定安装有把手，所述拉杆上套设有弹簧，所述弹簧的一端连接所述滑块，所述弹簧的另一端连接限位槽内壁；所述测试槽内安装有测试板，所述测试板的两端均设置有向上倾斜的斜面，所述卡块靠近所述测试板的一端上均设置有与所述斜面相平行的锥面，所述测试板的上方还设置有用以承载待测试的集成电路的集成电路载板，所述集成电路测试座、所述测试板和所述集成电路载板间通过接触件和接脚依次耦合。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述集成电路载板的底部沿四周边角处均设置有支脚，所述集成电路测试座的上表面设置有与所述支脚相对应的连接槽。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述限位槽的开口处设置有用于防止滑块脱离的固定块。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述接触件的顶部向内凹设有用于连接所述接脚的安装槽，所述安装槽呈漏斗状，所述接脚包括杆部，所述杆部的底部两侧对称设置有具有弹性的L型金属连接片。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述测试板内接触件和接脚通过导电线路相连接，所述导电线路电连接电压传感器，所述电压传感器通过单片机连接显示屏。