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专利号: 2023228635734
专利类型:实用新型
专利状态:未下证
专利领域: 暂无
更新日期:2024-07-30
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种集成电路测试装置,包括测试仪(1),其特征在于:所述测试仪(1)的表面开设有若干个传输口(2),所述测试仪(1)的表面设有限位结构(3),所述限位结构(3)包括框架(301),所述框架(301)与测试仪(1)的表面固定连接,所述框架(301)的表面开设有凹槽(302),所述框架(301)远离测试仪(1)的一侧固定连接有两个U形架(303),所述U形架(303)的表面转动连接有支撑臂(304),所述U形架(303)的表面滑动贯穿有插销(305),所述支撑臂(304)的表面开设有两个圆槽(306),所述圆槽(306)的尺寸与插销(305)的尺寸相适配,所述支撑臂(304)的表面固定连接有挡板(307)。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于:所述插销(305)的圆弧面套有弹簧(308),所述弹簧(308)的两端分别与插销(305)和U形架(303)固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于:所述框架(301)的表面固定连接有若干个圆杆(309),所述圆杆(309)的套有若干个圆筒(310)。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试装置,其特征在于:所述框架(301)的表面螺纹贯穿有驱动杆(311),所述驱动杆(311)的一端转动连接有矩形板(312)。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于:所述测试仪(1)的表面设有防护结构(4),所述防护结构(4)包括矩形框(41),所述矩形框(41)与测试仪(1)的表面固定连接,所述矩形框(41)的表面固定连接有橡胶垫(42),所述橡胶垫(42)的表面开设有三个矩形孔(43)。

6.根据权利要求5所述的一种集成电路测试装置,其特征在于:所述测试仪(1)的表面固定连接有若干个限位板(44),若干个所述限位板(44)两两一组。

7.根据权利要求5所述的一种集成电路测试装置,其特征在于:所述矩形孔(43)的内壁固定连接有矩形垫(45),所述矩形垫(45)的表面固定连接有弹力绳(46)。