1.一种集成电路测试装置，其特征在于，包括：

底座(101)；

所述底座(101)的左、右两侧外壁上均固定有连接耳一(102)，所述连接耳一(102)顶部安装有龙门架(103)，所述龙门架(103)内顶部安装有测试仪(104)，所述测试仪(104)通过弹性线(105)连接有测试笔(106)；

所述底座(101)顶部开设有滑槽(108)，所述滑槽(108)内对称滑动连接有两个滑块(109)，两个滑块(109)顶部均固定有连接板(110)，所述连接板(110)顶部固定有L型板(111)，所述L型板(111)顶部开设有穿孔(112)，所述穿孔(112)内活动穿设有连接杆(113)，所述连接杆(113)一端固定有拉条(114)，所述连接杆(113)另一端固定有固定板(115)。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述连接杆(113)外壁设有压缩弹簧(117)，所述压缩弹簧(117)一端与固定板(115)固定，所述压缩弹簧(117)另一端与L型板(111)固定。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述固定板(115)底部安装有软垫一(116)。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述底座(101)顶部安装有软垫二(107)。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，还包括清灰机构(200)，所述清灰机构(200)包括开设于底座(101)顶部的安装槽(202)，所述安装槽(202)内设有粘胶板(203)。

6.根据权利要求5所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述粘胶板(203)左、右两侧外壁上均固定有连接耳二(204)，所述连接耳二(204)顶部开设有螺纹孔一(205)，所述底座(101)顶部开设有与螺纹孔一(205)相配合的螺纹孔二(206)。

7.根据权利要求6所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述螺纹孔一(205)、螺纹孔二(206)内螺纹连接有固定螺栓(201)。