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专利号: 2023112641354
申请人: 江苏晖恒芯片科技有限责任公司
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2026-08-19
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种芯片耐性测试机器,包括测试主轴(1)、挡护板(2)和支座(3),其特征在于:还包括内串联型供能机构(4)和热磁双增型测试机构(29),所述挡护板(2)对称设于测试主轴(1)两侧,所述支座(3)设于挡护板(2)远离测试主轴(1)的一侧,所述内串联型供能机构(4)设于测试主轴(1)外侧,所述热磁双增型测试机构(29)设于挡护板(2)侧壁,所述内串联型供能机构(4)包括分角受磨机构(5)、驱动起热机构(11)和导热串联机构(19),所述分角受磨机构(5)设于测试主轴(1)外侧,所述驱动起热机构(11)设于测试主轴(1)两侧,所述导热串联机构(19)设于分角受磨机构(5)上,所述热磁双增型测试机构(29)包括芯片定位机构(30)、递增传导机构(36)和收叠型吸离机构(43),所述芯片定位机构(30)设于挡护板(2)侧壁,所述递增传导机构(36)设于芯片定位机构(30)靠近测试主轴(1)的一侧,所述收叠型吸离机构(43)设于芯片定位机构(30)底壁;

所述分角受磨机构(5)包括分度块(6)、隔热柱(7)、受磨块(8)、导热口(9)和摩擦板(10),多组所述分度块(6)对称设于测试主轴(1)两端,多组所述隔热柱(7)设于分度块(6)远离测试主轴(1)的一侧,所述受磨块(8)设于隔热柱(7)远离分度块(6)的一侧,所述导热口(9)设于受磨块(8)靠近隔热柱(7)的一端,所述摩擦板(10)转动设于受磨块(8)远离隔热柱(7)的一侧;

所述驱动起热机构(11)包括电机座(12)、驱动电机(13)、分导板(14)、驱动螺杆(15)、主动齿轮(16)、锁紧螺母(17)和从动齿条(18),所述电机座(12)对称设于挡护板(2)的上壁和底壁,所述驱动电机(13)设于电机座(12)远离挡护板(2)的一侧,所述分导板(14)对称设于测试主轴(1)远离挡护板(2)的一端;

所述导热串联机构(19)包括导热柱(20)、串联导热弹簧(21)、串联导热板(22)、串联螺纹孔(23)、串联导热螺栓(24)、集热箱(25)、集热口(26)、温度传感器(27)和集热板(28),所述导热柱(20)设于导热口(9)内部,所述串联导热弹簧(21)设于导热柱(20)侧壁,所述串联导热板(22)设于串联导热弹簧(21)远离导热柱(20)的一侧,所述串联螺纹孔(23)和串联导热螺栓(24)分别设于相邻设置的串联导热板(22)侧壁,串联导热螺栓(24)与串联螺纹孔(23)螺纹连接;

所述集热箱(25)对称设于分导板(14)远离驱动螺杆(15)一侧的测试主轴(1)外侧,多组所述集热口(26)设于集热箱(25)靠近分导板(14)的一侧,所述温度传感器(27)设于集热箱(25)内壁,所述集热板(28)设于测试主轴(1)靠近集热箱(25)一端的串联导热弹簧(21)远离导热柱(20)的一侧,集热板(28)与集热口(26)螺纹连接;

所述芯片定位机构(30)包括测试座(31)、测试板(32)、测试槽(33)、夹持弹簧(34)和夹持板(35),所述测试座(31)对称设于挡护板(2)两侧,所述测试板(32)设于测试座(31)远离挡护板(2)的一侧,多组所述测试槽(33)设于测试板(32)远离测试座(31)的一侧,测试板(32)为一端开口设置,所述夹持弹簧(34)对称设于测试槽(33)的上壁和底壁,所述夹持板(35)设于夹持弹簧(34)远离测试槽(33)内壁的一侧,所述夹持板(35)相对设置;

所述递增传导机构(36)包括传导座(37)、集热柱(38)、分导柱(39)、温度杆(40)、测试口(41)、导温板(42)和吸离口(50),所述传导座(37)对称设于集热箱(25)两侧,所述分导柱(39)设于测试座(31)之间,所述集热柱(38)贯穿传导座(37)设于集热箱(25)内部;

所述集热柱(38)远离集热箱(25)的一端设于分导柱(39)侧壁,所述温度杆(40)设于测试槽(33)靠近分导柱(39)的一侧,所述导温板(42)设于测试口(41)内部,所述温度杆(40)设于分导柱(39)与导温板(42)之间,温度杆(40)的直径沿测试主轴(1)向两侧递增,所述吸离口(50)设于测试板(32)侧壁;

所述收叠型吸离机构(43)包括折叠杆(44)、转动块(45)、固定螺母(46)、吸离板(47)和电磁铁(48),所述折叠杆(44)设于测试板(32)底壁,所述转动块(45)转动设于折叠杆(44)外侧,所述固定螺母(46)对称设于转动块(45)两侧的折叠杆(44)外侧,所述吸离板(47)设于转动块(45)外侧,多组所述电磁铁(48)设于吸离板(47)靠近测试槽(33)的一侧。

2.根据权利要求1所述的一种芯片耐性测试机器,其特征在于:所述驱动螺杆(15)设于驱动电机(13)动力端与分导板(14)之间,驱动螺杆(15)转动设于分导板(14)侧壁,多组所述主动齿轮(16)滑动设于驱动螺杆(15)外侧,所述锁紧螺母(17)对称设于主动齿轮(16)两侧的驱动螺杆(15)外侧,锁紧螺母(17)与驱动螺杆(15)螺纹连接,所述从动齿条(18)设于摩擦板(10)外侧,从动齿条(18)与主动齿轮(16)相啮合。