1.芯片测试筛选平台，包括外壳(1)，其特征在于：所述外壳(1)的内底部固定连接有底座(2)，所述底座(2)的内部设置有主板(18)，所述底座(2)的上表面设置有多个夹紧装置，且夹紧装置包括固定块一(8)、支架一(9)、支架二(10)和固定块二(11)，所述固定块一(8)与固定块二(11)的上表面均固定连接有加热块(12)，所述底座(2)的上表面且位于夹紧装置内设置有检测器(13)。

2.根据权利要求1所述的芯片测试筛选平台，其特征在于：所述检测器(13)的表面开设有若干个孔，所述检测器(13)与主板(18)电性连接。

3.根据权利要求1所述的芯片测试筛选平台，其特征在于：所述外壳(1)的侧壁固定连接有控制器(4)，所述控制器(4)的上表面固定连接有温度传感器(7)。

4.根据权利要求1所述的芯片测试筛选平台，其特征在于：所述底座(2)表面开设有滑槽，且滑槽滑动连接有立柱二(17)，所述立柱二(17)的前壁固定连接有横板(16)，所述横板(16)的表面开设有螺纹孔，且螺纹孔螺纹连接有螺纹柱一(14)。

5.根据权利要求1所述的芯片测试筛选平台，其特征在于：所述底座(2)的上表面固定连接有立柱一(3)，所述立柱一(3)的侧壁开设有滑槽，所述支架一(9)固定连接在滑槽内，所述支架二(10)滑动连接在滑槽内，所述立柱一(3)与立柱二(17)的前壁均螺纹连接有螺纹柱二(15)，且螺纹柱二(15)与支架二(10)固定连接。

6.根据权利要求1所述的芯片测试筛选平台，其特征在于：所述支架一(9)远离立柱一(3)的一端与固定块一(8)侧壁固定连接，所述支架二(10)远离立柱一(3)的一端与固定块二(11)侧壁固定连接，所述固定块一(8)与固定块二(11)都紧贴底座(2)。

7.根据权利要求3所述的芯片测试筛选平台，其特征在于：所述控制器(4)的前壁设置有开关(5)，所述开关(5)一侧设置有声音报警器(6)。

8.根据权利要求4所述的芯片测试筛选平台，其特征在于：所述立柱二(17)的侧壁连接有夹紧装置。