1.一种芯片测试装置，包括工作台(1)，其特征在于，还包括

一框架(2)，框架(2)固定于所述工作台(1)顶端侧壁，所述框架(2)一侧侧壁固定有测试器本体(3)，所述工作台(1)一侧侧壁固定有两个呈对称分布的承载架(4)，所述框架(2)位于所述承载架(4)正上方，所述承载架(4)一侧设置有定位组件(5)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述定位组件(5)包括多通槽(51)，多个通槽(51)呈对称分布开设于所述工作台(1)顶端侧壁，所述通槽(51)内部滑动连接有滑动块(52)，所述滑动块(52)顶端侧壁固定有夹持板(53)，所述框架(2)内侧滑动连接有传动板(54)；

一底板(55)，底板(55)固定于所述工作台(1)底端侧壁，所述底板(55)顶端侧壁固定有气缸(56)，所述气缸(56)的输出端与所述传动板(54)一侧侧壁固定，所述传动板(54)与所述滑动块(52)之间铰接有连接杆(57)。

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述传动板(54)一侧侧壁开设有多个呈对称分布的凹槽(6)，所述凹槽(6)与所述框架(2)一侧滑动连接，所述夹持板(53)竖直截面呈L性状设置，所述夹持板(53)一侧侧壁固定有橡胶板(7)。

4.根据权利要求3所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述工作台(1)一侧设置有移动组件(8)，所述移动组件(8)包括一通道(81)，通道(81)开设于所述工作台(1)和两个所述承载架(4)顶端侧壁，所述通道(81)内部滑动连接有活动板(82)，所述工作台(1)一侧侧壁开设有装载槽(83)，所述装载槽(83)与所述通道(81)相连通设置；

两支撑板(84)，两个支撑板(84)呈对称分布固定于所述工作台(1)底端侧壁，两个所述支撑板(84)相邻的一侧侧壁共同转动连接有转轴(85)，所述转轴(85)外表面紧固套接有直齿轮(86)，所述活动板(82)一侧侧壁开设有齿形槽(87)，所述直齿轮(86)与所述齿形槽(87)啮合连接，其中一个所述支撑板(84)一侧侧壁固定有基座(89)，所述基座(89)顶端侧壁固定有伺服电机(88)，所述伺服电机(88)的输出轴一端与所述转轴(85)一端同轴固定。

5.根据权利要求4所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述活动板(82)一侧侧壁开设有方形槽(9)，所述方形槽(9)一侧转动连接有转动杆(10)，所述转动杆(10)外表面紧固套接有挡块(11)。

6.根据权利要求5所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述挡块(11)两侧均呈光滑圆弧面设置，所述挡块(11)的长度值与所述方形槽(9)的开设长度值一致。

7.根据权利要求6所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述承载架(4)一侧侧壁固定有两个呈对称分布的挡板(12)，所述挡板(12)与所述承载架(4)之间的夹角呈直角状设置。