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专利号: 202310019040X
申请人: 浙江理工大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2026-10-21
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种等离子增强化学气相沉积生长GaON外延薄膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤(1)将金属镓源和清洗、吹干后的衬底放入反应舟内,反应舟放在石英反应管内;

步骤(2)封闭石英反应管,打开真空泵对石英管抽真空;当石英管真空度至1 Pa以下,打开混气罐阀门,通入惰性气体氩气作为运输载气;

步骤(3)加热石英管内的反应舟和衬底;当温度升至设置温度后,打开氧气和氮气阀门,调节氧气和氮气流量,让氧气和氮气通入石英管内参与反应;

步骤(4)打开射频电源,设置射频功率和生长时间,在衬底上沉积GaON薄膜,完成制备;

所述的镓源为金属镓颗粒,纯度为99.999%,氧气气流量范围为1 100 sccm,氮气气流~量范围为1 100 sccm,氩气气流流量范围10 100 sccm;

~ ~

衬底为(0001)面的蓝宝石衬底;

薄膜的沉积温度在700 ℃~1000 ℃;

射频功率在150 W~300 W。

2.如权利要求1所述的一种等离子增强化学气相沉积生长GaON外延薄膜的制备方法,其特征在于,衬底用丙酮、无水乙醇、去离子水中的一种或多种进行超声清洗,然后高纯氮气干燥。

3.如权利要求2所述的一种等离子增强化学气相沉积生长GaON外延薄膜的制备方法,其特征在于,将蓝宝石衬底的抛光面倒置于陶瓷舟内。

4.如权利要求1所述的一种等离子增强化学气相沉积生长GaON外延薄膜的制备方法,其特征在于,放置镓源距离衬底表面4 cm‑12 cm。

5.一种等离子增强化学气相沉积生长GaON外延薄膜,其特征在于,采用权利要求 1‑4 任意一项所述的GaON外延薄膜的制备方法制备而成。