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专利号: 201810023526X
申请人: 德淮半导体有限公司
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2025-11-18
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种化学气相沉积工艺,其特征在于,包括:确定进行CVD反应时反应腔的设定压力;

将气体排放管路上设置的排气阀打开至第一角度,所述第一角度为进行CVD工艺时排气阀打开的第二角度的10%~90%;

在CVD反应腔内通入反应气体,至反应腔的压力达到设定压力;

调整所述排气阀打开的角度至第二角度,所述第二角度可使反应腔内气体压力保持在设定压力;

进行CVD工艺。

2.如权利要求1所述的化学气相沉积工艺,其特征在于,所述第一角度为进行CVD工艺时排气阀打开的第二角度的20%~60%。

3.如权利要求2所述的化学气相沉积工艺,其特征在于,所述第一角度为进行CVD工艺时排气阀打开的第二角度的30%~40%。

4.如权利要求1所述的化学气相沉积工艺,其特征在于,所述第二角度为排气阀最大打开角度的13%~60%。

5.如权利要求4所述的化学气相沉积工艺,其特征在于,所述排气阀的最大打开角度为

89°。

6.如权利要求1所述的化学气相沉积工艺,其特征在于,所述第二角度在进行CVD工艺时根据反应腔内反应气体流量,反应产物的变化即时调整。

7.如权利要求1所述的化学气相沉积工艺,其特征在于,所述排气阀为蝶阀。

8.如权利要求1所述的化学气相沉积工艺,其特征在于,所述的CVD工艺为常压化学气相沉积、低压化学气相沉积、等离子体增强化学气象沉积或者高密度等离子体化学气相沉积。