1.一种高品质因数折射率传感器的设计方法，其特征在于：包括以下步骤：

S1.在SiO2衬底上设计具有不对称特性的Z型金属结构单元，其固定参数为l0、l1、w0和w1；

S2.参数Px和Py分别为金属结构阵列在x轴和y轴上的空间周期，电场E的极化方向平行于Z形结构的悬臂梁，即x偏振入射，入射光的传播方向垂直于SiO2衬底，即波矢量k的方向。

2.根据权利要求1所述的一种高品质因数折射率传感器的设计方法，其特征在于：步骤S1所述的Z型结构的固定结构参数l0＝l1＝300～500nm,w0＝w1＝50～150nm。

3.根据权利要求1所述的一种高品质因数折射率传感器的设计方法，其特征在于：步骤S2所述的结构阵列周期Px＝Py＝500～1000nm。

4.根据权利要求1所述的一种高品质因数折射率传感器的设计方法，其特征在于：可在步骤S1所述的Z型结构一侧设置1～2根Au纳米棒，形成具有旋转不对称的AZ‑l2型结构或AZ‑l2‑l3型结构，AZ‑l2型结构或AZ‑l2‑l3型结构之间的耦合间隙g＝10～30nm。

5.一种折射率传感器，其特征在于：由上述权利要求1至4任一项所述方法制备所到。