1.一种芯片测试分选装置，包括：工作台（1），所述工作台（1）上端滑动安装有移动台（2），所述工作台（1）中部固定安装有检测架（3），其特征在于：所述移动台（2）内部滑动连接有托盘（206），所述检测架（3）内部滑动连接有移动板（302），所述检测架（3）内部顶部后侧固定安装有检测头（304），所述检测头（304）位于移动板（302）后侧，所述移动板（302）底部转动连接有转杆（306），所述转杆（306）表面附有转印标签纸。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述工作台（1）上端前后侧均固定安装有挡板（101），前侧所述挡板（101）正面固定安装有气缸一（102），所述气缸一（102）的输出端与移动台（2）固定连接。

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述挡板（101）之间左右两侧均固定安装有导杆（103），所述导杆（103）与移动台（2）滑动连接，所述工作台（1）上端左右两侧均开设有滑槽一（104），所述滑槽一（104）与移动台（2）滑动连接。

4.根据权利要求3所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述移动台（2）上端固定安装有固定盘（201），所述移动台（2）底部左右两侧均固定安装有滑块一（202），所述移动台（2）正面左右两侧均开设有导孔（203），所述导孔（203）与导杆（103）滑动连接。

5.根据权利要求4所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述固定盘（201）左端固定安装有气缸二（204），所述气缸二（204）输出端与托盘（206）固定连接，所述固定盘（201）内部前后侧均固定安装有导轨（205），所述托盘（206）滑动安装在固定盘（201）内部，所述托盘（206）底部固定安装有滑块二（207），所述滑块二（207）与导轨（205）滑动连接。

6.根据权利要求5所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述托盘（206）内部开设有若干个限位槽（208），所述限位槽（208）内部均倒角设置。

7.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述检测架（3）内部左右两端均开设有滑槽二（301），所述滑槽二（301）与移动板（302）滑动连接。

8.根据权利要求7所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述检测架（3）上端固定安装有电动伸缩杆（303），所述电动伸缩杆（303）输出端与移动板（302）上端固定连接。

9.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述移动板（302）底部左右两侧均固定安装有固定板（305），所述固定板（305）之间转动连接有转杆（306）。

10.根据权利要求9所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述固定板（305）外端面固定安装有电机（307），所述电机（307）输出端与转杆（306）固定连接。