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专利号: 2019113137062
申请人: 浙江工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2026-07-29
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种制备高通量薄膜的磁控溅射装置,其特征在于:包括基体、基片台、圆筒、带齿圆环和掩模组件,所述带齿圆环安装在圆筒的上端处,所述掩模组件安装在圆筒的下端处,所述基体位于圆筒内且通过轴承与带齿圆环可转动连接,基片放置在基片台上,基片台安装在基体的底部上,所述带齿圆环的内壁设有齿形结构,所述基体上设有第一真空电机,第一真空电机的电机轴上设有第一齿轮,所述第一齿轮与带齿圆环的齿形结构啮合,第一真空电机用于驱动基体相对于掩模组件旋转;

所述掩模组件包括设有掩模安装板、掩模和齿条,所述掩模安装板内设有通道,在掩模安装板的末端还设有一个与通道连通的安装孔,该通道沿着板上圆心和安装孔圆心连线方向设置,所述掩模与齿条连接,且两者均可在该通道内移动,所述掩模安装板用于将圆筒的底部封住,并在与圆筒中轴线对应处设有长方形通孔,该长方形通孔与通道连通,同时该长方形通孔尺寸小于掩模的尺寸,第二真空电机安装在圆筒的外侧上,其电机轴上设有第二齿轮,所述第二齿轮安装在该安装孔上且与齿条啮合,第二真空电机用于驱动掩模左右移动;所述基体的中心轴部还与外部电机连接,外部电机通过驱动基体,带动整个磁控溅射装置的旋转。

2.如权利要求1所述的制备高通量薄膜的磁控溅射装置,其特征在于:所述掩模为方形。

3.如权利要求1或2所述的制备高通量薄膜的磁控溅射装置,其特征在于:所述圆筒外设有用于平衡第二真空电机重量的配重。

4.一种基于权利要求1所述的磁控溅射装置制备高通量薄膜的制备方法,其特征在于:包括磁控溅射装置,该装置安装在磁控溅射系统的真空腔内,真空腔内设有三个靶,每个靶包括靶体和靶材,靶材安装在靶体上,每个靶倾斜靶材中心正对基体中心;所述方法包括以下步骤:步骤一、完成溅射实验的前提准备,包括基片清洗以及抽气;

步骤二、第一块靶材进行预溅射;

步骤三、开启外部电机,使基体带动整个磁控溅射装置旋转,再进行溅射;

步骤四、在溅射的同时,开启第二真空电机,使掩模匀速移动;掩模移动结束后,结束溅射;

步骤五、开启第二真空电机,反方向旋转使掩模归位;归位完成后,开启第一真空电机,使掩模组件与基片相对转动,掩模组件与原先位置有120°的夹角;

步骤六、第二块靶材进行预溅射,依次按照步骤三至步骤五进行操作;

步骤七、第三块靶材进行预溅射,依次按照步骤三和步骤四进行操作,便获得一块三元高通量薄膜。