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专利号: 2018114576113
申请人: 东华理工大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2025-08-30
缴费截止日期: 暂无
联系人

摘要:

权利要求书:

1.一种复合介电薄膜,其特征在于:由聚偏氟乙烯和金纳米颗粒制备而成,按照体积分数计算,其中,金纳米颗粒为0.01~0.02vol%,其余为聚偏氟乙烯;

复合介电薄膜以聚偏氟乙烯作为绝缘保护层,金纳米颗粒作为中间层,构成聚合物-金属-聚合物三明治结构;

复合介电薄膜的制备方法包括以下制备步骤:(1)选取聚偏氟乙烯树脂加入到溶剂中溶解均匀形成聚偏氟乙烯溶液;

(2)将聚偏氟乙烯溶液均匀涂布在模具表面,干燥制成PVDF薄膜,PVDF薄膜的厚度为35~40μm;

(3)将PVDF薄膜置于离子溅射仪或磁控溅射镀膜仪中进行单面镀金处理;

(4)将镀金后的薄膜置于模腔中,镀金面向上,在模腔中加入聚偏氟乙烯溶液,烘干后从模具上剥离即得PVDF/金纳米颗粒复合介电薄膜。

2.如权利要求1所述的一种复合介电薄膜的制备方法,其特征在于:包括如下制备步骤:

(1)选取聚偏氟乙烯树脂加入到溶剂中溶解均匀形成聚偏氟乙烯溶液;

(2)将聚偏氟乙烯溶液均匀涂布在模具表面,干燥制成PVDF薄膜;

(3)将PVDF薄膜置于离子溅射仪或磁控溅射镀膜仪中进行单面镀金处理;

(4)将镀金后的薄膜置于模腔中,镀金面向上,在模腔中加入聚偏氟乙烯溶液,烘干后从模具上剥离即得PVDF/金纳米颗粒复合介电薄膜。

3.根据权利要求2所述的一种复合介电薄膜的制备方法,其特征在于:步骤(1)所述溶剂是指能够溶解或均匀分散聚偏氟乙酸树脂的任意溶剂。

4.根据权利要求2所述的一种复合介电薄膜的制备方法,其特征在于:所述步骤(2)均匀涂布在模具表面的聚偏氟乙烯的厚度为35~40μm。

5.根据权利要求2~4任意一项所述的一种复合介电薄膜的制备方法,其特征在于:所述金纳米颗粒的粒径为40~70nm。