1.一种平板式半导体器件稳态热阻测试装置，包括底板(1)以及与底板(1)固定连接的支撑架(11)，其特征在于：所述底板(1)上表面固定设置有恒温发热板(17)，所述底板(1)上表面通过电动推杆(14)设置有用于初步固定半导体器件(4)的夹持机构(2)，以及夹持机构(2)的夹持部设置有用于适配不同厚度的半导体器件(4)的替换组件(3)；

所述夹持机构(2)包括与电动推杆(14)伸缩端固定连接的固定板(21)，所述固定板(21)的一侧分别滑动设有与两个支撑板(25)固定连接的两个T形块(24)，所述支撑板(25)的一侧滑动设置有多个伸缩杆(28)，所述支撑板(25)内部转动设置有用于驱动螺纹杆(29)旋转的蜗杆(211)，所述螺纹杆(29)的一端设有与伸缩弹簧(27)一端固定连接的限位块(213)。

2.根据权利要求1所述的一种平板式半导体器件稳态热阻测试装置，其特征在于：所述支撑板(25)内部等分阵列开设有若干个供伸缩杆(28)一端滑动的限位槽(26)，所述伸缩杆(28)靠近伸缩弹簧(27)的一端与伸缩弹簧(27)一端固定连接，所述限位槽(26)内壁与限位块(213)表面滑动连接，所述伸缩弹簧(27)另一端与限位块(213)靠近伸缩杆(28)的一侧固定连接。

3.根据权利要求2所述的一种平板式半导体器件稳态热阻测试装置，其特征在于：所述限位槽(26)内壁远离限位块(213)一侧与螺纹杆(29)的一端活动穿插，所述螺纹杆(29)靠近伸缩杆(28)的一端与限位块(213)中部螺纹连接。

4.根据权利要求1所述的一种平板式半导体器件稳态热阻测试装置，其特征在于：所述蜗杆(211)远离固定板(21)的一端活动穿插支撑板(25)并延伸至外部，所述螺纹杆(29)远离伸缩杆(28)一端的表面固定套设有与蜗杆(211)啮合的蜗轮(210)，所述蜗杆(211)远离固定板(21)的一端部固定设置有旋钮(212)。

5.根据权利要求1所述的一种平板式半导体器件稳态热阻测试装置，其特征在于：所述替换组件(3)包括开设在伸缩杆(28)远离伸缩弹簧(27)一侧的卡槽(31)，以及与卡槽(31)内壁卡接的短防滑块(33)。

6.根据权利要求1所述的一种平板式半导体器件稳态热阻测试装置，其特征在于：所述底板(1)上表面与两个电动推杆(14)底部固定连接，两个所述电动推杆(14)伸缩端面均与固定板(21)底部固定连接，所述固定板(21)靠近支撑板(25)一侧的两端开设有供两个T形块(24)滑动的T形槽，两个所述T形块(24)靠近支撑板(25)一侧分别与两个支撑板(25)靠近两个T形块(24)一侧固定连接。

7.根据权利要求1所述的一种平板式半导体器件稳态热阻测试装置，其特征在于：所述固定板(21)内腔的两端活动贯穿有与两个T形块(24)螺纹连接的双向螺纹杆(23)，所述双向螺纹杆(23)位于固定板(21)的外部端面固定设置有转轮(22)。

8.根据权利要求1所述的一种平板式半导体器件稳态热阻测试装置，其特征在于：所述恒温发热板(17)顶部固定设置有第二标准热阻(16)，所述支撑架(11)内侧左端面固定设置有温度传感器(18)，所述支撑架(11)内侧顶部通过恒压气缸(12)固定设置有冷却板(13)，所述冷却板(13)底部固定设置有第一标准热阻(15)。