1.一种新型集成电路检测装置，其特征在于：包括：

检测机构，包括至少两个对立设置的检测组件；所述检测组件上包括：驱动机构，以及可旋转地设置于所述驱动机构上的多头检测架；多头检测架用于实现集成电路的正反面多点位的同时检测；

夹持机构，设置于所述检测组件之间，包括：承载台，和可滑动地对立设置于所述承载台上的至少两个夹持组件；所述夹持组件包括：可滑动地对立设置于所述承载台上的至少两个夹持板。

2.根据权利要求1所述的一种新型集成电路检测装置，其特征在于：所述驱动机构包括：底座；设置于所述底座上的气缸；连接于所述气缸的移动端的移滑座；设置于所述移滑座上的第一电机；传动连接于所述电机的转盘。

3.根据权利要求2所述的一种新型集成电路检测装置，其特征在于：所述多头检测架包括：传动连接于所述转盘的检测架，设置于所述检测架上的若干插孔，以及安装于所述插孔上的若干检测头。

4.根据权利要求1所述的一种新型集成电路检测装置，其特征在于：所述夹持机构还包括：设置于所述承载台上的至少一个滑轨，设置于所述承载台两侧的至少两个拖链，传动连接于所述滑轨的第二电机；所述拖链的活动端与所述夹持组件连接。

5.根据权利要求4所述的一种新型集成电路检测装置，其特征在于：所述夹持组件还包括：连接于所述拖链和所述滑轨的滑板，设置于所述滑板上的电动导轨，以及滑动连接于所述电动导轨上的至少两个滑块；所述夹持板设置于所述滑块上。

6.根据权利要求5所述的一种新型集成电路检测装置，其特征在于：所述夹持板包括：设置于所述滑块上的固定架，以及设置于所述固定架上的夹持块。