1.一种新型集成电路检测装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的上表面固定连接有软质支架(2)，底座(1)的左右两侧均固定连接有侧固定板(3)，侧固定板(3)的里侧均固定连接有第一弹簧(4)，第一弹簧(4)另一端均固定连接有固定板(5)，底座(1)左右两侧且在侧固定板(3)的外侧均滑动连接有侧滑动板(6)，侧滑动板(6)的外侧均固定连接有微型电机(7)，微型电机(7)的上端均固定连接有螺纹丝杆(8)，螺纹丝杆(8)的外侧均螺纹连接有上移动板(9)，上移动板(9)上滑动连接有检测电笔(10)，检测电笔(10)的外侧且在上移动板(9)的上方设置有松紧螺母(11)，检测电笔(10)的上端固定连接有线缆(12)，检测电笔(10)的内部固定连接有激光灯(13)，底座(1)的里侧固定连接有限位挡板(14)，检测电笔(10)的下部内侧滑动连接有轻质环柱(15)，轻质环柱(15)的下端固定连接有弧形金属片(16)，检测电笔(10)的内部下端左侧固定连接有第二弹簧(17)，第二弹簧(17)的右侧且安装在检测电笔(10)上固定连接有金属柱(18)。

2.根据权利要求1所述的一种新型集成电路检测装置，其特征在于：所述软质支架(2)设置最低三个且为正三角形。

3.根据权利要求1所述的一种新型集成电路检测装置，其特征在于：所述固定板(5)的里侧固定安装有柔软垫片(501)。

4.根据权利要求1所述的一种新型集成电路检测装置，其特征在于：所述激光灯(13)在检测电笔(10)的正中心。

5.根据权利要求1所述的一种新型集成电路检测装置，其特征在于：所述检测电笔(10)的内部下侧左端固定安装有固定块(1001)。

6.根据权利要求1所述的一种新型集成电路检测装置，其特征在于：所述轻质环柱(15)的内部设置有导线(1501)，轻质环柱(15)的上端左侧固定连接有矩形金属片(1502)。

7.根据权利要求1所述的一种新型集成电路检测装置，其特征在于：所述弧形金属片(16)的形状为圆形且中间开设有通孔(1601)。

8.根据权利要求1所述的一种新型集成电路检测装置，其特征在于：所述第二弹簧(17)的中部和下端分别固定连接有第一金属板(1701)和第二金属板(1702)。