1.一种可防静电的芯片测试架，其特征在于：包括支撑板(100)、伸缩杆(200)、连接块(300)、第一活动板(400)、第二活动板(500)和控制器(600)，所述伸缩杆(200)位于所述支撑板(100)的上侧，所述连接块(300)固定连接在所述伸缩杆(200)的输出端，所述第一活动板(400)固定连接在所述支撑板(100)的底部，所述第二活动板(500)滑动连接在所述第一活动板(400)的底部，所述控制器(600)位于所述支撑板(100)的左上侧，所述伸缩杆(200)的外侧壁套接有复位弹簧(210)，所述连接块(300)的内侧壁粘接有保护块(310)。

2.根据权利要求1所述的一种可防静电的芯片测试架，其特征在于：所述支撑板(100)的顶部左右两侧固定连接有连接板(110)，且所述伸缩杆(200)固定连接在所述连接板(110)的内侧壁中间，所述控制器(600)固定连接在所述连接板(110)的外侧壁左侧。

3.根据权利要求1所述的一种可防静电的芯片测试架，其特征在于：所述支撑板(100)和所述保护块(310)均采用聚氯乙烯材料制成。

4.根据权利要求1所述的一种可防静电的芯片测试架，其特征在于：所述第一活动板(400)的底部左右两侧固定连接有第一电动滑块(410)，且所述第一电动滑块(410)滑动连接在所述第二活动板(500)的顶部左右两侧。

5.根据权利要求1所述的一种可防静电的芯片测试架，其特征在于：所述第二活动板(500)的底部前后两侧固定连接有第二电动滑块(510)，所述第二电动滑块(510)的底部滑动连接有底座(520)。

6.根据权利要求1所述的一种可防静电的芯片测试架，其特征在于：所述控制器(600)电性连接第一电动滑块(410)和第二电动滑块(510)。