1.一种半导体晶圆光学检测设备，其特征在于：包括检测模组（2）、第一移动板（7）和取样环（9），所述检测模组（2）下方设有移动模组（3），所述移动模组（3）一侧设有固定杆（16），所述固定杆（16）上方设有固定块（6），所述固定块（6）上设有所述第一移动板（7），所述第一移动板（7）靠近所述固定块（6）的一侧设有第二移动板（8），所述第一移动板（7）和所述第二移动板（8）一侧均固定连接有所述取样环（9），所述固定块（6）远离所述检测模组（2）的一侧设有放置模组（5）。

2.根据权利要求1所述的一种半导体晶圆光学检测设备，其特征在于：所述取样环（9）顶部固定连接有吸盘（10），所述吸盘（10）设有若干个，且若干个所述吸盘（10）以所述取样环（9）为圆心环绕设置。

3.根据权利要求1所述的一种半导体晶圆光学检测设备，其特征在于：所述固定杆（16）内部活动嵌合有活动杆（14），所述固定块（6）底部与所述活动杆（14）顶部固定连接。

4.根据权利要求3所述的一种半导体晶圆光学检测设备，其特征在于：所述活动杆（14）两侧固定连接有嵌合块（15），所述固定杆（16）靠近所述嵌合块（15）的一侧设有嵌合槽（17），所述嵌合块（15）活动嵌合在所述嵌合槽（17）内。

5.根据权利要求3所述的一种半导体晶圆光学检测设备，其特征在于：所述固定杆（16）上贯穿设有丝杆（19），所述丝杆（19）底部活动连接有旋转电机（18），所述丝杆（19）贯穿所述活动杆（14）并与所述活动杆（14）螺纹连接。

6.根据权利要求1所述的一种半导体晶圆光学检测设备，其特征在于：所述第一移动板（7）与所述第二移动板（8）呈对称交错设置，且所述第一移动板（7）与所述第二移动板（8）远离所述取样环（9）的一侧均活动连接有气动组件（13），所述气动组件（13）固定连接在所述固定块（6）远离所述取样环（9）的一侧。

7.根据权利要求2所述的一种半导体晶圆光学检测设备，其特征在于：所述第一移动板（7）与所述第二移动板（8）内部均固定连接有气泵组件（11），两个所述气泵组件（11）分别与对应的所述取样环（9）上的所述吸盘（10）连通。

8.根据权利要求1所述的一种半导体晶圆光学检测设备，其特征在于：所述固定块（6）两侧设有活动槽（12），所述活动槽（12）设有两个，且两个所述活动槽（12）分别与所述第一移动板（7）和所述第二移动板（8）相对应，第一移动板（7）与第二移动板（8）均活动嵌合在所述活动槽（12）内。

9.一种半导体晶圆光学检测系统，其特征在于：包括设备主体（1）、观察模组（4）和如权利要求1‑8任一项所述的半导体晶圆光学检测设备。