1.一种LED芯片老化测试装置，其特征在于：包括：

底箱(1)，所述底箱(1)顶部的烤后侧焊接有N型架(2)，所述N型架(2)的顶部横向滑动设置有杆架(10)，所述杆架(10)的内部安装有电动伸缩杆(11)，且电动伸缩杆(11)的活动端位于杆架(10)的下方，并安装有升降板(12)，所述升降板(12)的底部可拆式安装有连接块(13)，所述连接块(13)的底部安装有老化座上座(14)；

所述底箱(1)顶部的两侧均滑动安装有平移板(6)，两个平移板(6)呈错位式滑动，即，一个朝向前侧滑动，则另一个朝向后侧滑动，所述平移板(6)顶部的靠后侧可拆式有用于放置LED芯片的老化座下座(7)，同时，老化座下座(7)与老化座上座(14)为配套使用。

2.根据权利要求1所述的一种LED芯片老化测试装置，其特征在于：所述底箱(1)顶部的另一侧均安装有一组滑轨A，同组滑轨的数量有两个，所述平移板(6)底部的两侧均安装有在滑轨A上滑动的滑块(16)，所述底箱(1)内部的靠前侧安装有驱动电机(9)，且驱动电机(9)的驱动端位于底箱(1)的上方，并安装有齿轮(8)，靠内侧的所述滑块(16)安装有与齿轮(8)相啮合的齿条(15)。

3.根据权利要求1所述的一种LED芯片老化测试装置，其特征在于：所述升降板(12)的底部安装有电磁铁(17)，所述连接块(13)的顶部开设有用于限位电磁铁(17)的连接腔(18)，且连接腔(18)的内部安装有与电磁铁(17)磁吸的铁块。

4.根据权利要求3所述的一种LED芯片老化测试装置，其特征在于：所述平移板(6)顶部的靠后侧开设有卡槽(20)，所述卡槽(20)的内部与老化座下座(7)的底部均安装有磁铁片(19)，且上、下两个磁铁片(19)的相对面呈磁性吸附。

5.根据权利要求1所述的一种LED芯片老化测试装置，其特征在于：所述N型架(2)顶部的中部安装有直线电机(3)，且直线电机(3)的活动端与杆架(10)的顶部相连接，同时，N型架(2)顶部的中部贯穿开设有供直线电机(3)活动端穿过的滑道。

6.根据权利要求5所述的一种LED芯片老化测试装置，其特征在于：所述N型架(2)的顶部还安装有机箱(4)，且机箱(4)的底部设置有用于直线电机(3)放置的凹腔，所述机箱(4)的正面安装有显示屏(5)。