1.一种便携式芯片老化测试装置，包括芯片老化测试装置本体（1）和安装在芯片老化测试装置本体（1）顶端表面的芯片老化测试台（20），其特征在于：所述芯片老化测试台（20）的顶端表面开设有芯片老化测试槽（2），所述芯片老化测试槽（2）内壁活动安装有芯片本体（3），所述芯片老化测试装置本体（1）的顶端表面安装有固定架（8），所述固定架（8）的外侧表面安装有正反电机（13），所述正反电机（13）输出端的外侧表面安装有测试台移动结构，用于将芯片老化测试台（20）进行上下移动，所述正反电机（13）输出端的外侧表面安装有取芯片结构，用于将芯片本体（3）从芯片老化测试槽（2）中取出。

2.根据权利要求1所述的一种便携式芯片老化测试装置，其特征在于：所述测试台移动结构包括主动机构和从动机构，所述主动机构安装在正反电机（13）输出端的外侧表面，所述从动机构安装在主动机构的外侧表面，所述主动机构用于带到从动机构进行上下移动。

3.根据权利要求2所述的一种便携式芯片老化测试装置，其特征在于：所述主动机构包括活动连接杆（11）和旋转主轴（12），所述旋转主轴（12）安装在正反电机（13）输出端的外侧表面，所述活动连接杆（11）安装在旋转主轴（12）的底端表面，所述活动连接杆（11）的外侧表面安装有球轴（9）。

4.根据权利要求2所述的一种便携式芯片老化测试装置，其特征在于：所述从动机构包括两个第一连接杆（4）和两个固定柱（5），两个所述第一连接杆（4）的皆安装在芯片老化测试台（20）的外侧表面，两个所述固定柱（5）皆安装在芯片老化测试装置本体（1）的顶端表面，两个所述固定柱（5）的外侧表面皆安装有限位板（6），两个所述第一连接杆（4）的外侧表面皆安装有移动套环（7），所述移动套环（7）与固定柱（5）活动接触，任一所述移动套环（7）的顶端表面开设有球槽（10），所述球槽（10）与球轴（9）的外侧表面活动接触。

5.根据权利要求1所述的一种便携式芯片老化测试装置，其特征在于：所述取芯片结构包括旋转运动转化直线运动机构和吸芯片机构，所述旋转运动转化直线运动机构安装在正反电机（13）输出端的外侧表面，用于将旋转运动转化直线运动，所述吸芯片机构安装在旋转运动转化直线运动机构的外侧表面，用于取出芯片本体（3）且不需要有手接触。

6.根据权利要求5所述的一种便携式芯片老化测试装置，其特征在于：所述旋转运动转化直线运动机构包括滚珠丝杠本体（14）和滚珠丝杠滑台（15），所述滚珠丝杠本体（14）安装在正反电机（13）输出端的外侧表面，所述滚珠丝杠滑台（15）活动安装在滚珠丝杠本体（14）的外侧表面，所述滚珠丝杠滑台（15）的外侧表面安装有第二连接杆（16），所述第二连接杆（16）的底端表面安装有活塞（18）。

7.根据权利要求6所述的一种便携式芯片老化测试装置，其特征在于：所述吸芯片机构包括两个第三连接杆（21）和密封管（17），两个所述第三连接杆（21）皆对应安装在固定柱（5）的外侧表面，两个所述第三连接杆（21）的外侧表面安装有密封管（17），所述密封管（17）的底端表面安装有橡胶吸盘（19），所述活塞（18）与密封管（17）内部活动接触。