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专利号: 2018115408986
申请人: 常州大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2026-08-12
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于空心氧化硅制备高硬度减反膜的方法,其特征在于:所述方法步骤如下:

(1)以正硅酸四乙酯(TEOS)为原料,聚丙烯酸(PAA)为模板剂,2-异丙氧基乙醇(IPGE)和甲醇(MeOH)共同作为溶剂,氨水(NH4OH)为催化剂,以模板法制备得到结构规整的中空SiO2纳米粒子溶胶;

将上述溶胶于通风橱敞口搅拌,当溶液的pH降至7,停止搅拌,将溶胶的重量百分比调节为1.5wt%后,记为待镀膜溶胶;

(2)采用提拉浸渍法在经过处理的透光率为92%的玻璃基片上镀制双面减反射薄膜,常温下干燥后于100℃烘箱中固化1h,再于550℃的马弗炉中煅烧2h,得到可见光波段平均透光率98%以上,硬度达到4H以上的减反射薄膜。

2.如权利要求1所述的基于空心氧化硅制备高硬度减反膜的方法,其特征在于:步骤(1)所述的PAA、NH4OH、混合溶剂和MeOH的体积比为0.1:6:120:1-2,其中,混合溶剂中2-异丙氧基乙醇与甲醇的体积比为7:3;PAA的Mw=5000。

3.如权利要求1所述的基于空心氧化硅制备高硬度减反膜的方法,其特征在于:步骤(1)所述的中空SiO2纳米粒子溶胶的制备方法为:室温下,将聚丙烯酸溶于氨水中,在搅拌下缓慢加入溶剂,移置30℃水浴锅剧烈搅拌10分钟后分5次逐滴加入正硅酸四乙酯,时间间隔为10min,将混合溶液密封剧烈搅拌10h后,即可得到50-60nm的中空二氧化硅纳米粒子溶胶。

4.如权利要求1所述的基于空心氧化硅制备高硬度减反膜的方法,其特征在于:步骤(2)所述的玻璃基片的处理方法为:把2×10cm的玻璃基片以先后次序放到质量分数为10%的盐酸和质量分数为10%的NaOH溶液中分别超声处理70min,超声波功率为60W,再用无水乙醇和去离子水超声洗涤,晾干,得到经过处理的透光率为92%的玻璃基片。

5.如权利要求1所述的基于空心氧化硅制备高硬度减反膜的方法,其特征在于:步骤(2)所述的镀制减反射薄膜的具体方法为:将经过处理的玻璃基片浸入到步骤(1)制得的待镀膜溶胶中,浸渍360s后,于提拉机上以4000μm/s的提拉速度镀膜,经干燥固化,煅烧后得到减反射膜。