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专利号: 2018103663071
申请人: 浙江工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2026-08-12
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于组合X射线毛细管的微束X射线荧光分析系统,其特征在于,所述系统包括X射线光管、可见光激光器、组合X射线毛细管器件、样品台和X射线探测器及其信息采集分析模块,所述X射线光管或可见光激光器均和组合X射线毛细管器件、样品台的被测样品位于同一光轴上,所述X射线探测器贴近被测样品放置,所述X射线探测器与信息采集分析模块相连;

所述组合X射线毛细管器件包括(M+1)个X射线毛细管透镜和组合X射线毛细管机械紧固件,所述X射线毛细管透镜是一种基于反射效应的X射线聚光器件,能够对多波长X射线辐射进行二维聚焦,形成点状聚焦焦斑;所述X射线毛细管透镜入射端尺寸大于出射端尺寸,其出射端到焦斑的尺寸称为X射线毛细管透镜的后焦距;所述组合X射线毛细管机械紧固件起固定X射线毛细管透镜的作用,依据组合X射线毛细管器件的组合布局,在其内部安置并固定(M+1)个X射线毛细管透镜;

其中M取4;所述组合X射线毛细管器件沿其光轴呈中心对称分布,所述组合X射线毛细管器件的光轴与阵列中零级X射线毛细管透镜的光轴重合,零级X射线毛细管透镜位于组合X射线毛细管器件的光轴上,所述组合X射线毛细管器件的光轴与组合中非零级X射线毛细管透镜的光轴夹角为θ,所有非零级X射线毛细管透镜布置在与光轴同心的同心圆上,所述同心圆的半径依据下列公式计算:入射端同心圆半径r1:r1≥l·tanθ+2a             (1)

出射端同心圆半径r2:r2≥2b                        (2)

其中a为X射线毛细管透镜入射端半径、b为X射线毛细管透镜出射端半径、l为X射线毛细管透镜的长度。

2.如权利要求1所述的基于组合X射线毛细管的微束X射线荧光分析系统,其特征在于,所述系统还包括水平导轨和垂直导轨,所述垂直导轨、组合X射线毛细管器件和样品台依次可水平移动地置于水平导轨上,所述X射线光管和可见光激光器置于垂直导轨上,所述垂直导轨和水平导轨的机械轴相互垂直。

3.如权利要求2所述的基于组合X射线毛细管的微束X射线荧光分析系统,其特征在于,所述水平导轨的机械轴与微束X射线荧光分析系统的光轴重合。

4.如权利要求1~3之一所述的基于组合X射线毛细管的微束X射线荧光分析系统,其特征在于,所述样品台距所述组合X射线毛细管器件的距离,与X射线毛细管透镜的后焦距尺寸相同。

5.如权利要求4所述的基于组合X射线毛细管的微束X射线荧光分析系统,其特征在于,所述样品台能够进行升降、两个维度的平移、两个维度的角度偏转,共5个维度的调节;所述

5个维度的调节能对置于其上样品进行位置的调节,使得从组合X射线毛细管器件出射的X射线探测微束照射到被测区域。

6.如权利要求4所述的基于组合X射线毛细管的微束X射线荧光分析系统,其特征在于,所述X射线探测器贴近样品台上的被测样品放置,收集X射线探测微束照射被测样品所产生的二次荧光,并送入信息采集分析模块进行荧光分析,所述信息采集分析模块通过接口与X射线探测器相连。