1.一种激光辅助全反射X荧光铀矿痕量元素分析装置，其包括激发光源、探测装置、样品台、激光辅助分析装置、分析器及电路输出设备，其特征在于：所述激发光源包括X光管（1），X光管高压（6）及设置于X光管（1）出口处的准直器（2），X光管高压（6）通过电路与X光管（1）连接；所述探测装置包括硅漂移探测器（3）、硅漂移探测器（3）通过电路连接设有探测器高压（7）、电荷灵敏前置放大器（8），电荷灵敏前置放大器（8）通过电路连接设有脉冲成型放大器（9）；所述样品台包括手动旋转位移台（12），手动旋转位移台（12）上设有角位台（13），角位台（13）上设有样品盒（4），样品盒（4）中放置有样品；所述激光辅助分析装置包括激光光源（15）及靶点（16），激光光源（15）固定于角位台（13）上方，靶点（16）就有刻度尺位于准直器（2）的外表面；所述分析器为与脉冲成型放大器（9）相连的数字化多道谱仪（10）；所述电路输出设备包括与数字化多道谱仪（10）连接的进行数据分析的计算机（11）及与计算机（11）连接的用于输出显示计算机（11）分析出的数据的打印器及显示器（14）；靶点位置具有长度标度尺，量程是1cm，精度为10um，中心点为准直器（2）的中心点; 激光光源（15）发出激光穿过样品，光路改变，在样品台上形成全反射后，又穿过样品，达到靶点上的长度标度尺，利用激光在靶点的长度标度尺的位置读数l可用公式：l=2d*(1‑tanθ)，其中θ为激光光源发出的红外光源与样品台的夹角θ，计算出样品厚度d，解决传统全反射X荧光分析中粉末样品厚度对测量结果的影响。

2. 根据权利要求1所述激光辅助全反射X荧光铀矿痕量元素分析装置，其特征在于：该装置的使用步骤为：激光光源发出红外光，照在样品台上，通过调节样品台的位置及角度，利用光的反射原理，把红外光反射到靶点位置，实现待测样品的快速 定位，具有成本低、快速、准确等优点；当样品台放置铀矿样品后，激光光路将会改变，通过靶点的位置数据计算出样品厚度，能够解决传统全反射X荧光分析中粉末样品厚度对测量结果的影响；当X光管（1）发出的连续的X射线以全反射角度精准的照射在样品台上放置的样品上，激发样品中铀矿的特征X荧光信息，荧光信息被硅漂移探测器接收，经脉冲成型放大器（9）成形放大后由数字化多道谱仪（10）转化为用于分析的能谱并由计算机（11）进行数据处理控制。

3.根据权利要求1所述激光辅助全反射X荧光铀矿痕量元素分析装置，其特征在于：激光光源为红外光源，功率小于15瓦，红外光源与样品台的夹角θ小于0.5度。

4.根据权利要求1所述激光辅助全反射X荧光铀矿痕量元素分析装置，其特征在于：所述手动旋转位移台（12）能分别上下移动10mm，左右移动10mm，前后移动10mm，旋转360度；所述角位台（13）精度为0.15度，调节角位台（13）角度，使激发光源发出的X射线以小于0.5度的角度照射在样品上。

5.根据权利要求1所述激光辅助全反射X荧光铀矿痕量元素分析装置，其特征在于：所述的X光管高压（6）为30000伏。

6.根据权利要求1所述激光辅助全反射X荧光铀矿痕量元素分析装置，其特征在于：所述准直器（2）的直径为2mm，长度40mm。

7.根据权利要求1所述激光辅助全反射X荧光铀矿痕量元素分析装置，其特征在于：所述激发光源的X光管（1）发出的X射线与样品盒（4）之间距离为50毫米，夹角小于0.5度。

8.根据权利要求1所述激光辅助全反射X荧光铀矿痕量元素分析装置，其特征在于：所述硅漂移探测器（3）与样品盒（4）之间距离为15mm，夹角为90度。

9.根据权利要求1所述激光辅助全反射X荧光铀矿痕量元素分析装置，其特征在于：所述激发光源采用的是连续的X射线作为激发光源。