1.一种多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置，其特征在于，包括：样品室、设置在样品室内的第一移动机构、样品台、X射线发射器、探测器和摄像头；

所述第一移动机构包括X轴移动机构、Y轴移动机构，所述样品台设置在所述X轴移动机构和所述Y轴移动机构上，且分别通过X轴移动机构、Y轴移动机构沿X轴移动或沿Y轴移动；

所述样品台包括滑动平台、固设在所述滑动平台上的球铰座、凸轮机构、以及与所述球铰座铰接的样品座，所述凸轮机构包括固设在所述滑动平台上的电机、与所述电机的输出轴连接的凸轮以及与所述凸轮抵接配合的滑轮件，所述滑轮件远离所述凸轮的一端连接至所述样品座。

2.根据权利要求1所述的多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置,其特征在于,所述样品座上转动连接有样品盒，所述样品盒包括转动座和固定在所述转动座上的盒体，所述转动座呈倒T型，所述样品座开设有与所述转动座相适配的倒T型槽，所述转动座可转动地嵌设在所述倒T型槽中。

3.根据权利要求2所述的多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置,其特征在于,所述滑动平台上还设有用于推动所述转动座相对所述样品座转动的旋转动力件，所述旋转动力件包括齿轮和驱动齿轮转动的电机，所述转动座周设有与所述齿轮啮合的齿圈。

4.根据权利要求1所述的多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置,其特征在于,所述滑动平台与所述Y轴移动机构连接，所述Y轴移动机构驱动所述滑动平台沿Y轴移动，所述Y轴移动机构与所述X轴移动机构连接，所述X轴移动机构驱动所述Y轴移动机构沿X轴移动。

5.根据权利要求4所述的多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置,其特征在于,所述X轴移动机构包括两个沿X轴方向设置的X轴同步带、配置在所述X轴同步带上的X轴同步带轮以及驱动所述X轴同步带轮转动的第一步进电机，所述Y轴移动机构的两端分别与两个X轴同步带固定。

6.根据权利要求5所述的多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置,其特征在于,所述Y轴移动机构包括连接座、设置在连接座上Y轴同步带、配置在所述Y轴同步带上的Y轴同步带轮以及驱动所述Y轴同步带轮转动的第二步进电机，所述滑动平台固定在所述Y轴同步带上。

7.根据权利要求6所述的多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置,其特征在于,所述连接座上还设有Y轴导杆，所述Y轴导杆穿设在所述滑动平台内，与所述滑动平台滑动连接。

8.根据权利要求1所述的多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置,其特征在于,还包括第二移动机构，所述第二移动机构设置在样品室的上方位置，包括仪器平台、上下十字交叉穿设在所述仪器平台上的X轴滑杆和Y轴滑杆、驱动所述X轴滑杆沿Y轴移动的第一丝杆组件以及驱动所述Y轴滑杆沿X轴移动的第二丝杆组件，所述仪器平台的承载面朝向所述样品台，且安装有所述X射线发射器、所述探测器和所述摄像头。

9.根据权利要求1所述的多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置,其特征在于,所述样品座上可拆卸地配置有翻转轨道，翻转轨道包括第一板体和第二板体，第一板体和第二板体均呈扭转状，第一板体从首端到末端，由竖向表面逐渐扭转成水平表面，相适应地，第二板体从首端到末端，由水平表面逐渐扭转成竖向表面。