1.一种半导体制冷片综合测试设备，包括机架，其特征在于：所述的机架设置有进料装置、分拣装置及控制器，所述的进料装置包括料盘输送带、空盘输送带、待测品输送带、进料搬运机构及视觉测试机构，所述的料盘输送带用于输送多个呈堆叠状并放置半导体制冷片的料盘，该料盘输送带设置有与待测品输送带相对应的上料位及将堆叠的料盘放置于料盘输送带的放盘位，所述的空盘输送带用于输送多个呈堆叠状并空置的料盘，该空盘输送带设置有与料盘输送带的上料位对应的卸盘位及将堆叠的空料盘取出空盘输送带的取盘位，所述的待测品输送带逐个用于输送半导体制冷片，该待测品输送带设置有与料盘输送带的上料位对应的放料位及延伸至分拣机构的测试位，所述的进料搬运机构将位于料盘输送带的上料位的半导体制冷片搬运至待测品输送带的放料位并将位于料盘输送带的上料位的空料盘搬运至空盘输送带的卸盘位，所述的视觉测试机构设置于待测品输送带的侧面并将经过的半导体制冷片进行摄像记录，并将摄像记录传输至控制器进行储存，所述的分拣装置包括电阻测试机构、厚度测试机构、第一分拣搬运机构、第二分拣搬运机构、合格品输送带及不合格品输送带，所述的电阻测试机构包括电阻测试台及电阻测试组件，并将测试数据传输至控制器进行储存及比较，所述的合格品输送带及不合格品输送带平行设置且输送方向相同，所述的厚度测试机构包括位于合格品输送带及不合格品输送带之间的厚度测试台及厚度检测组件，并将测试数据传输至控制器进行储存及比较，所述的不合格品输送带设置有与第一分拣搬运机构相对应的等待位，所述的第一分拣搬运机构将位于待测品输送带的测试位的半导体制冷片搬运至电阻测试台，并将位于电阻测试台的半导体制冷片搬运至不合格品输送带的等待位，该半导体制冷片为经控制器比较后的合格品，则等待第二分拣搬运机构搬运至厚度测试台，该半导体制冷片为经控制器比较后的不合格品，则由不合格品输送带继续传输，所述的第二分拣搬运机构设置有两组同步移动并用于搬运半导体制冷片的搬运组件，为第一搬运组件及第二搬运组件，所述的第一搬运组件与不合格品输送带位置相对应时，第二搬运组件与厚度测试台的位置相对应；所述的第一搬运组件与厚度测试台的位置相对应，第二搬运组件与合格品输送带位置相对应，所述的第一搬运组件将厚度检测后的不合格产品搬运至不合格品输送带，由不合格品输送带继续输送，所述的第二搬运组件将厚度检测后的合格产品搬运至合格品传输带，由合格品输送带继续输送；

所述的进料搬运机构、第一分拣搬运机构及第二分拣搬运机构均包括横梁、横梁轨道、横向调节座、横向电机，竖向气缸、竖向调节座、纵梁及吸盘组件，所述的横梁轨道沿横向设置于横梁，所述的横向调节座滑移于横梁，所述的横向电机安装于横梁并驱动设置有与横向调节座螺纹配合的位移丝杆，所述的竖向气缸安装于横向调节座并驱动竖向调节座升降，所述的纵梁沿纵向安装于横向调节座，所述的吸盘组件安装于纵梁下方，所述的进料搬运机构的横梁设置于料盘输送带、空盘输送带及待测品输送带上方，所述的第一分拣搬运机构设置于待测品输送带、电阻测试台及不合格品输送带的侧面，所述的第二分拣搬运机构设置于电阻测试台、不合格品输送带及合格品输送带的侧面，所述的第二分拣搬运机构的竖向调节座与纵梁之间沿横向设置有副横梁，所述的纵梁分别固定设置于副横梁的横向两端，所述的第一搬运组件及第二搬运组件即为吸盘组件，所述的第一搬运组件及第二搬运组件分别安装于两个纵梁上；

所述的料盘输送带包括左分部、右分部及驱动左分部和右分部同步循环转动的进料驱动组件，所述的左分部及右分部之间设置有监测间隙，位于所述的料盘输送带的上料位的监测间隙设置有料盘传感器，所述料盘传感器在料盘取完后控制进料驱动组件启动。

2.根据权利要求1所述的半导体制冷片综合测试设备，其特征在于：所述的进料搬运机构的纵梁沿纵向排布有三组以上吸盘组件。

3.根据权利要求1所述的半导体制冷片综合测试设备，其特征在于：所述的空盘输送带设置有驱动其循环转动的空盘驱动组件，所述的空盘输送带侧面设置有在空料盘堆叠至一定高度后启动空盘驱动组件的空盘传感器。

4.根据权利要求1所述的半导体制冷片综合测试设备，其特征在于：所述的机架位于料盘输送带的上料位的边缘分别设置有与堆叠料盘侧面相叠的侧板，位于所述的料盘输送带两侧的侧板沿竖向且分别对称设置有抬升口，所述的机架与各抬升口对应设置有将位于最上端的料盘高度进行抬升的抬升组件，所述的抬升组件包括抬升插板、插板伸缩气缸、插板升降座、插板升降气缸及升降轨道，所述的升降轨道沿竖向设置于机架，所述的插板升降座沿升降轨道移动，所述的插板升降气缸驱动插板升降座升降，所述的插板伸缩气缸安装于插板升降座并驱动抬升插板相对料盘伸缩，所述的抬升插板包括板状主体，所述的板状主体前端设置有插入相邻料盘间隙，并将相邻料盘间隙逐渐扩大，直至支撑于料盘下方的抬升顶角。

5.根据权利要求1所述的半导体制冷片综合测试设备，其特征在于：所述的视觉测试机构包括摄像头及摄像头机架，所述的摄像头通过有线或无线的方式将获得的图像传输至控制器，所述的摄像头机架包括竖杆、横向摆动杆、竖向摆动杆、摆动座及锁定件，所述的竖杆沿竖向固定设置于机架，横向摆动杆一端横向摆动于竖杆上端，另一端用于安装竖向摆动杆，所述的竖向摆动杆竖向摆动于横向摆动杆，所述的竖向摆动杆远离横向摆动杆的端部用于安装摆动座，所述的摄像头摆动设置于摆动座，所述的锁定件两端分别设置有供杆体穿过的安装孔，所述的锁定件设置有与安装孔联通的安装缺口及将安装缺口进行收拢的锁定螺栓；

所述锁定件包括第一锁定件和第二锁定件，第一锁定件设置于竖杆与横向摆动杆之间，第二锁定件横向摆动杆与竖向摆动杆之间，第一锁定件将调节后的竖杆与横向摆动杆的位置进行锁定，第二锁定件将调节后的横向摆动杆与竖向摆动杆的位置进行锁定。

6.根据权利要求1所述的半导体制冷片综合测试设备，其特征在于：所述的电阻测试组件包括测试座、正极压块、负极压块及电阻升降气缸，所述的电阻升降气缸安装于机架并驱动测试座升降，所述的正极压块及负极压块安装于测试座并分别与半导体制冷片的两根引线位置相对应，所述的电阻测试台设置有自动夹具，所述的自动夹具包括分别位于半导体制冷片两侧的固定夹板及活动夹板，所述的固定夹板固定于电阻测试台，所述的电阻测试台设置有供活动夹板向远离半导体制冷片方向移动的夹板轨道，所述的活动夹板及固定夹板相对的端面上方分别设置有在半导体制冷片挤压下沿夹板轨道移动的挤压斜面，所述的活动夹板下方设置有滑移于夹板轨道的调位块，所述的电阻测试台沿夹板轨道方向穿设有调节杆，所述的调节杆一端固定于调位块，另一端设置有调节块，所述的调节块与电阻测试台之间压设有将调位块向靠近半导体制冷片复位的调节弹簧。

7.根据权利要求1所述的半导体制冷片综合测试设备，其特征在于：所述的厚度检测组件包括厚度测试板、测试板升降气缸及位移传感器，所述的厚度测试台设置有水平放置半导体制冷片的测试平面，所述的位移传感器安装于该测试平面，所述的测试板升降气缸驱动厚度测试板相对测试平面升降，所述的测试板升降气缸驱动厚度测试板下降至与半导体制冷片相抵时，位移传感器将测试平面与厚度测试板的间距进行记录，传输至控制器进行对比，区分合格品与不合格品。

8.根据权利要求7所述的半导体制冷片综合测试设备，其特征在于：所述的测试平面设置有缓冲报警机构，所述的缓冲报警机构包括上缓冲板、下缓冲板、弹性缓冲环、蜂鸣器、缓冲弹簧及蜂鸣器控制开关，所述的上缓冲板及下缓冲板自上而下依次设置，所述的弹性缓冲环由可形变材质制成，并压缩于上缓冲板及下缓冲板之间，所述的蜂鸣器控制开关及缓冲弹簧位于弹性缓冲环内，所述的蜂鸣器控制开关被挤压时，启动安装于机架的蜂鸣器，所述的厚度测试台设置有调节下缓冲板高度的缓冲气缸。