1.一种半导体制冷片检测装置，其特征在于，包括工作台、设置在工作台上的立柱、与立柱转动连接的转杆、与转杆可滑动连接的红外检测仪，所述红外检测仪连接显示屏，所述转杆由两部分拼接组成，所述转杆上开设一通孔，通孔内部设凸环，所述立柱上设凹环，立柱与转杆通过凸环与凹环的匹配连接，所述工作台上设检测槽，所述检测槽对应检测电源。

2.如权利要求1所述的一种半导体制冷片检测装置，其特征在于，所述转杆由两组截面呈半圆的柱体拼接组成，所述通孔以及凸环由两部分拼接组成。

3.如权利要求1所述的一种半导体制冷片检测装置，其特征在于，所述转杆上设两组限位块，所述红外检测仪在两组限位块之间移动。

4.如权利要求1所述的一种半导体制冷片检测装置，其特征在于，所述转杆上设滑块，所述滑块与转杆滑动连接，所述红外检测仪固定在滑块上。

5.如权利要求1所述的一种半导体制冷片检测装置，其特征在于，所述红外检测仪为红外热成像仪。

6.如权利要求1所述的一种半导体制冷片检测装置，其特征在于，所述凹环与凸环之间设滚珠。

7.如权利要求1所述的一种半导体制冷片检测装置，其特征在于，所述检测槽包括六组，六组检测槽对应设置检测电源。