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专利号: 2010102191170
申请人: 比亚迪股份有限公司
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 基本电气元件
更新日期:2024-09-06
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种太阳能电池片的减反射膜,其特征在于,所述减反射膜的成分主要为SiNx:H,减反射膜中距离减反射膜所依附的硅片表面为T处的SiNx:H中的X满足如下关系:-2 -4 2 -6 3 -8 4

X=a-1.589×10 T+3.728×10 T-4.072×10 T+1.535×10 T ;

其中,a为减反射膜与硅片接触的底面中的氮硅比,1.00≤a≤2.0。

2.根据权利要求1所述的太阳能电池片的减反射膜,其特征在于,1.20≤a≤1.60。

3.根据权利要求1所述的太阳能电池片的减反射膜,其特征在于,所述减反射膜的厚度为50~100nm。

4.根据权利要求1所述的太阳能电池片的减反射膜,其特征在于,所述减反射膜的折射率从底面到顶面呈连续变化,所述底面的折射率为2.10~3.00;所述顶面的折射率为

1.90~2.06。

5.一种太阳能电池片的减反射膜的制备方法,其特征在于,包括以SiH4和NH3为反应源,在原料硅片表面沉积SiNx:H减反射膜;

所述SiH4和NH3的流量比R呈递减趋势,沉积的减反射膜距离硅片表面为T处的R满足如下关系:-2 -3 2 -6 3 -8 4

R=β-5.0×10 T+1.08×10 T-9.25×10 T+2.6×10 T,其中,β为起始SiH4和NH3的流量比,1.0≤β≤1.5;

制得太阳能电池片的减反射膜,减反射膜中距离减反射膜所依附的硅片表面为T处的SiNx:H中的X满足如下关系:-2 -4 2 -6 3 -8 4

X=a-1.589×10 T+3.728×10 T-4.072×10 T+1.535×10 T,其中,a为减反射膜与硅片接触的底面中的氮硅比,1.00≤a≤2.0。

6.根据权利要求5所述的太阳能电池片的减反射膜的制备方法,其特征在于,所述减反射膜的制备包括将原料硅片于流量比呈递减趋势的SiH4和NH3的气氛下移动,所述原料硅片移动的速率为130-190cm/min。

7.根据权利要求5所述的太阳能电池片的减反射膜的制备方法,其特征在于,所述SiH4和NH3的总流量为1000~7000sccm。

8.根据权利要求5所述的太阳能电池片的减反射膜的制备方法,其特征在于,所述沉积的方法包括等离子体增强型化学气相沉积法。

9.根据权利要求5所述的太阳能电池片的减反射膜的制备方法,其特征在于,所述沉积的温度为350℃~450℃。