1.集成电路可靠性分析的测试仪，包括底座(1)，其特征在于：底座(1)的顶部安装有一侧设有开口的外壳(2)，外壳(2)的内部设有移动板(18)，移动板(18)的顶部通过伸缩机构(5)与外壳(2)相连，且移动板(18)的底部通过线性驱动模组(4)连接有安装座(6)，安装座(6)的底部安装有若干个导电套(26)，每个导电套(26)的内部均设有探针(21)，探针(21)的底部伸至导电套(26)外部；

在探针(21)的下方设有压板(23)，压板(23)的顶部开设有若干个通孔(22)，每个探针(21)均与对应的通孔(22)相对齐，且压板(23)的顶部两侧均垂直安装有L形连接板(24)，安装座(6)的底部两侧均安装有导向杆(25)，每根导向杆(25)底部均贯穿L形连接板(24)，每根导向杆(25)的侧面均套有第一弹簧(20)，每根第一弹簧(20)的底部均抵在L形连接板(24)顶部，且每根第一弹簧(20)的顶部抵在安装座(6)的底部；

底座(1)的顶部安装有输送轨道(8)，输送轨道(8)的一端贯穿外壳(2)并伸至外壳(2)内部，且在输送轨道(8)内部设有输送链(11)，输送链(11)的顶部伸至输送轨道(8)外部，输送链(11)的顶部安装有两个置物盘(13)，每个置物盘(13)的顶部均开设有定位槽(14)，定位槽(14)的内部置有集成电路，外壳(2)的侧面开设有两个通槽(9)，且当其中一个置物盘(13)贯穿对应的通槽(9)移至外壳(2)内时，另一个置物盘(13)贯穿通槽(9)并移至外壳(2)外部；

输送轨道(8)的内部两端均设有链轮(12)，每个链轮(12)的底部均转动连接在底座(1)顶部，且输送轨道(8)的内部两端均开设有开口槽(15)，每个链轮(12)的一侧均贯穿对应的开口槽(15)并与输送链(11)相啮合，且其中一个链轮(12)的底部连接有驱动电机(16)，驱动电机(16)固定在底座(1)的顶部。

2.根据权利要求1所述的集成电路可靠性分析的测试仪，其特征在于：探针(21)的顶部安装有连接环(29)，连接环(29)为绝缘橡胶材料制成，且在每个导电套(26)的侧面均套有第二弹簧(28)，每根第二弹簧(28)的底部固定在连接环(29)的顶部，且每个第二弹簧(28)的顶部固定在安装座(6)的底部。

3.根据权利要求2所述的集成电路可靠性分析的测试仪，其特征在于：导电套(26)的外部同轴套有绝缘护套(27)，绝缘护套(27)为可伸缩的波纹套管，绝缘护套(27)的底部固定在连接环(29)顶部，绝缘护套(27)的顶部固定在安装座(6)的底部，且绝缘护套(27)外表面与第二弹簧(28)之间存在间距。

4.根据权利要求1所述的集成电路可靠性分析的测试仪，其特征在于：每根导向杆(25)的底端均安装有防脱块(30)，当第一弹簧(20)伸长时，L形连接板(24)的底部与防脱块(30)顶部相抵。

5.根据权利要求1所述的集成电路可靠性分析的测试仪，其特征在于：输送链(11)的顶部安装有两块密封盖(10)，其中一个密封盖(10)位于外壳(2)内部，另一个密封盖(10)位于外壳(2)外部，且当其中一个置物盘(13)移至探针(21)下方时，两个密封盖(10)覆盖在对应的通槽(9)端部并与通槽(9)密封连接。

6.根据权利要求1所述的集成电路可靠性分析的测试仪，其特征在于：外壳(2)靠近开口的一侧设有防护盖(3)，防护盖(3)的一侧通过楔形轨道与开设在外壳(2)侧面上的楔形槽滑动连接，且防护盖(3)覆盖在外壳(2)开口上并与外壳(2)开口侧壁密封连接。

7.根据权利要求1所述的集成电路可靠性分析的测试仪，其特征在于：外壳(2)的侧面安装有控制柜(7)，控制柜(7)内部的控制器通过导线分别与线性驱动模组(4)、导电套(26)、伸缩机构(5)以及驱动电机(16)相连。

8.根据权利要求1所述的集成电路可靠性分析的测试仪，其特征在于：底座(1)的底部边缘均安装有若干根支腿(19)。

9.根据权利要求1所述的集成电路可靠性分析的测试仪，其特征在于：外壳(2)的内部两侧均安装有导向板(17)，移动板(18)的两端均通过滑动套套在对应的导向板(17)侧面上并与导向板(17)滑动连接。