1.一种集成电路硅板韧性测试设备，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)的上端设有两个移动机构，两个所述移动机构的上端连接有卡紧机构，两个所述卡紧机构相对称设置，所述工作台(1)上端连接有放置机构，所述放置机构内设有检测机构，所述检测机构与外部电器元部件电性连接，所述检测机构与放置机构活动连接，所述放置机构与外部气源相连接。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路硅板韧性测试设备，其特征在于：两个所述移动机构包括分别设置于工作台(1)上端的两个滑槽(2)，所述工作台(1)的上端设有多个第一螺纹孔(3)，两个所述滑槽(2)内均滑动连接有滑块(4)，两块所述滑块(4)的上端均固定连接有连接板(5)，两块所述连接板(5)的上端均贯穿设有固定螺栓(6)，两根所述固定螺栓(6)分别与其中两个第一螺纹孔(3)螺纹连接。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路硅板韧性测试设备，其特征在于：两个所述卡紧机构包括分别固定连接于连接板(5)上端的竖板(7)，两块所述竖板(7)的侧壁上均螺纹连接有调节丝杆(8)，两根所述调节丝杆(8)远离竖板(7)的一端均转动连接有卡块(9)。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路硅板韧性测试设备，其特征在于：所述放置机构包括固定连接于工作台(1)上端的多根支撑杆(10)，多根所述支撑杆(10)的上端固定连接有同一块顶板(11)，所述顶板(11)的上端贯穿设有活塞筒(12)，所述活塞筒(12)与顶板(11)活动连接，所述活塞筒(12)的进气端固定连接有进气管(13)，所述进气管(13)与外部气源相连接，所述活塞筒(12)的出气端固定连接有出气管(14)，所述检测机构位于活塞筒(12)内。

5.根据权利要求4所述的一种集成电路硅板韧性测试设备，其特征在于：所述检测机构包括设置于活塞筒(12)内的活塞板(15)，所述活塞板(15)的下端固定连接有压力杆(16)，所述压力杆(16)的下端穿过活塞筒(12) 的侧壁并延伸至其下方，所述压力杆(16)内设有压力传感器(17)，所述压力传感器(17)与外部电器元部件电性连接。

6.根据权利要求4所述的一种集成电路硅板韧性测试设备，其特征在于：所述活塞筒(12)的侧壁上固定连接有两块相对称的固定板(18)，两块所述固定板(18)的上端均贯穿设有限位螺栓(19)，所述顶板(11)的上端设有两个与限位螺栓(19)相匹配的第二螺纹孔(20)，两个所述第二螺纹孔(20)分别与两根限位螺栓(19)螺纹连接。