1.一种芯片用测试装置，包括夹子（1），所述夹子（1）的侧面设置有转接板（2），所述夹子（1）与转接板（2）之间连接有连接线（3），其特征在于：所述连接线（3）的一端表面套接有限位块（4），所述限位块（4）由两部分组成，所述限位块（4）两部分的一端通过转轴连接，其中一个所述限位块（4）的另一端固定有固定块（8），另一个所述限位块（4）的另一端开设有与固定块（8）相适配的固定槽（7），且固定槽（7）的内壁固定有橡胶块，所述限位块（4）的内部固定有卡块（6）。

2.根据权利要求1所述的一种芯片用测试装置，其特征在于：所述夹子（1）的两侧表面对称开设有放置槽（10），且放置槽（10）的内部固定有固定卡块（9），所述固定卡块（9）的表面固定有多个凸块（5）。

3.根据权利要求2所述的一种芯片用测试装置，其特征在于：所述固定卡块（9）的表面与放置槽（10）的内壁呈贴合状态，所述固定卡块（9）为橡胶材质构件。

4.根据权利要求2所述的一种芯片用测试装置，其特征在于：所述凸块（5）的长度尺寸与固定卡块（9）的宽度尺寸一致，所述凸块（5）的横截面为长方形结构。

5.根据权利要求1所述的一种芯片用测试装置，其特征在于：所述限位块（4）为PVC材质构件，所述卡块（6）为硅胶材质构件。

6.根据权利要求1所述的一种芯片用测试装置，其特征在于：所述限位块（4）的横截面呈长方形结构，所述固定块（8）的表面与固定槽（7）的内壁呈贴合状态。