1.一种硅片的分选测试台，包括支撑台(1)，其特征在于：所述支撑台(1)的顶部固定连接有支撑架(2)，所述支撑架(2)一侧的底部固定连接有分选机构(3)，所述支撑台(1)顶部的一侧搭接有硅片盘(4)，所述支撑台(1)顶部的中部固定连接有测试机构(5)，所述支撑台(1)顶部的另一侧固定连接有收纳盒(6)。

2.根据权利要求1所述的一种硅片的分选测试台，其特征在于：所述分选机构(3)包括滑动杆一(31)，所述滑动杆一(31)的顶部与支撑架(2)一侧的底部固定连接，所述滑动杆一(31)内腔底部的两侧固定连接有齿条(32)，所述齿条(32)的表面啮合有齿轮(33)，所述齿轮(33)的一侧固定连接有12V双轴步进电机(34)。

3.根据权利要求2所述的一种硅片的分选测试台，其特征在于：所述12V双轴步进电机(34)的底部固定连接有滑动块(35)，所述滑动块(35)的底部固定连接有滑动杆二(36)所述滑动杆二(36)的一端固定连接有电机二(37)，所述电机二(37)转轴的一端固定连接有螺纹杆一(38)，所述螺纹杆一(38)中部的表面螺纹连接有驱动块(39)，所述螺纹杆一(38)的一端与滑动杆二(36)内腔的一侧转动连接，所述驱动块(39)的底部固定连接有气缸(310)。

4.根据权利要求3所述的一种硅片的分选测试台，其特征在于：所述气缸(310)的底部固定连接有吸气腔(311)，所述吸气腔(311)的底部固定连接有吸盘(312)，所述吸气腔(311)内腔的一侧固定连接有吸气软管(313)，所述吸气软管(313)的一端固定连接有鼓风机(314)，所述鼓风机(314)的底部与滑动杆二(36)顶部的一端固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种硅片的分选测试台，其特征在于：所述测试机构(5)包括安装盘(51)，所述安装盘(51)的底部与支撑台(1)顶部的中部固定连接，所述安装盘(51)的顶部固定连接有检测环(52)，所述检测环(52)的内部螺纹连接有螺纹杆二(53)。

6.根据权利要求5所述的一种硅片的分选测试台，其特征在于：所述螺纹杆二(53)的一端固定连接有旋钮(54)，所述螺纹杆二(53)另一端转动连接有检测板(55)，所述检测板(55)靠近螺纹杆二(53)一侧的两端固定连接有固定杆(56)，所述固定杆(56)的一端固定连接有读数板(57)。

7.根据权利要求6所述的一种硅片的分选测试台，其特征在于：所述读数板(57)的下方设置有刻度(58)，所述检测板(55)的顶部固定连接有导向杆(59)，所述导向杆(59)的上端固定连接有固定板(510)。

8.根据权利要求7所述的一种硅片的分选测试台，其特征在于：所述固定板(510)的顶部固定连接有电机三(511)，所述电机三(511)转轴的一端固定连接有螺纹杆三(512)，所述螺纹杆三(512)的表面螺纹连接有驱动板(513)，所述驱动板(513)的底部固定连接有检测块(514)，所述导向杆(59)的表面设置有刻度二(515)。