1.一种芯片检测装置，包括底座(1)以及固定在其内腔中部的电动推杆(2)，其特征在于，所述底座(1)顶部滑动连接有检测台(3)，所述电动推杆(2)穿过检测台(3)中心空槽，且所述电动推杆(2)的伸缩端顶部外壁固定连接有检测载板(21)，所述检测载板(21)端部固定连接有检测探针(22)，还包括：定位吸附机构(4)，所述定位吸附机构(4)设置在检测台(3)上，用于对待检测芯片进行定位固定；

翻转检测组件(5)，所述翻转检测组件(5)设置在检测台(3)上，用于对检测芯片进行翻面实现双面检测。

2.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置，其特征在于，所述检测台(3)顶部两侧均固定连接有凸形盒(31)，所述凸形盒(31)侧壁均转动连接有定位杆(32)，所述定位吸附机构(4)沿检测台(3)中心对称设置有两组，且每组所述定位吸附机构(4)均包括定位环(41)，所述定位环(41)与定位杆(32)端部固定连接，且位于定位环(41)下方的所述检测台(3)上开设有定位槽(42)，所述定位环(41)内壁四周均开设有卡接槽(43)，所述卡接槽(43)内滑动连接有卡接滑块(44)，所述卡接滑块(44)与卡接槽(43)内壁之间固定连接有第一弹簧(45)。

3.根据权利要求2所述的一种芯片检测装置，其特征在于，所述底座(1)内腔底部固定连接有活塞盒(6)，所述活塞盒(6)内从上至下依次滑动连接有第一滑板(61)和第二滑板(62)，所述第一滑板(61)顶部与活塞盒(6)之间固定连接有第二弹簧(611)，所述第二滑板(62)底部与活塞盒(6)之间固定连接有第三弹簧(621)，所述检测载板(21)的底部固定连接有触发杆(23)，所述触发杆(23)底端贯穿第一滑板(61)延伸至第二滑板(62)上方，所述底座(1)内腔底部固定连接有定套筒(46)，所述定套筒(46)内滑动连接有吸附杆(47)，所述定套筒(46)侧壁底部连通有充气管(461)，所述充气管(461)另一端与活塞盒(6)内腔底部连通，所述定套筒(46)侧壁顶部连通有吸附管(462)，所述吸附管(462)的另一端与第一滑板(61)和第二滑板(62)之间的腔体连通，所述吸附杆(47)内部开设有吸附槽(471)。

4.根据权利要求3所述的一种芯片检测装置，其特征在于，所述吸附槽(471)底端中心至吸附管(462)顶端中心的距离等于吸附杆(47)上移滑动的最大距离，所述吸附杆(47)上移滑动的最大距离等于吸附杆(47)顶端至卡接滑块(44)卡接面的距离。

5.根据权利要求2所述的一种芯片检测装置，其特征在于，四组所述卡接槽(43)之间通过导气管(431)相互连通，所述定位环(41)顶部两侧均固定连接有吹灰管(411)，所述吹灰管(411)与导气管(431)相连通，且所述吹灰管(411)的输出端向下倾斜设置。

6.根据权利要求3所述的一种芯片检测装置，其特征在于，所述翻转检测组件(5)包括翻转齿轮(51)，所述翻转齿轮(51)套接固定在位于凸形盒(31)内的定位杆(32)上，所述凸形盒(31)内壁滑动连接有驱动齿条(52)，所述驱动齿条(52)与翻转齿轮(51)啮合连接，且所述驱动齿条(52)的齿牙数量为翻转齿轮(51)的一半，所述凸形盒(31)两侧均固定连接有充气筒(53)，所述驱动齿条(52)两端分别贯穿延伸至两侧的充气筒(53)内，且所述驱动齿条(52)的两端均固定连接有活塞推块(521)，所述活塞推块(521)与充气筒(53)内壁贴合滑动，所述电动推杆(2)的固定端外壁固定连接有通气环(54)，所述通气环(54)外壁中部转动连接有连通套环(55)，且所述连通套环(55)与通气环(54)相连通，所述连通套环(55)外壁固定连接有第一导管(551)，所述第一导管(551)的另一端与充气筒(53)端部内腔连通，且所述第一导管(551)上连通有第二导管(552)，所述第二导管(552)的另一端与另一侧的充气筒(53)端部内腔连通，且所述第一导管(551)和第二导管(552)内均设置有电磁阀，所述活塞盒(6)顶部固定连接有第三导管(541)，所述第三导管(541)的另一端与通气环(54)内腔底部连通。

7.根据权利要求6所述的一种芯片检测装置，其特征在于，位于第一滑板(61)和第二滑板(62)之间的所述触发杆(23)外壁分别固定连接有上压板(231)和下压板(232)，位于第一滑板(61)下方的所述活塞盒(6)内壁固定连接有限位卡条(63)，且所述活塞盒(6)内固定连接有贯穿第一滑板(61)和第二滑板(62)的限位导杆(64)。

8.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置，其特征在于，所述检测台(3)底部固定连接有从动齿圈(33)，所述底座(1)内腔底部固定连接有伺服电机(7)，所述伺服电机(7)的输出轴端固定连接有驱动齿轮(71)，所述驱动齿轮(71)与从动齿圈(33)之间啮合连接。

9.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置，其特征在于，所述底座(1)顶部开设有限位滑槽(8)，所述检测台(3)底部等间距固定有限位滑杆(81)，所述限位滑杆(81)插接在限位滑槽(8)内并与其滑动连接。

10.一种芯片检测方法，基于权利要求1‑9中任一项所述芯片检测装置，其特征在于，检测方法步骤如下：

S1、在待检测工位将待检测芯片进行卡接固定；

S2、在检测工位对芯片进行检测，并实现对芯片底部的定位吸附；

S3、芯片单面检测后对其进行翻转，实现双面检测；

S4、轮转工位，实现上下料与检测的同步进行。