1.一种碳化硅晶体缺陷的检测装置，包括：检测盒(100)、盒门(300)、控制器(600)以及光学显微镜，所述检测盒(100)正面安装有两个盒门(300)，所述检测盒(100)上方设置有光学显微镜，右侧所述盒门(300)正面右侧安装有控制器(600)，其特征在于：所述检测盒(100)上表面中间贯通开设有检测口(200)；

所述检测盒(100)内部左侧安装有固定轴承(900)，所述固定轴承(900)右侧设置有左推杆(110)，所述检测盒(100)内部右侧安装有旋转板(130)，所述旋转板(130)左侧安装有右推杆(140)，所述左推杆(110)右侧以及右推杆(140)左侧分别连接有一个固定夹板(120)；

所述检测盒(100)右侧面上方安装有调节电机(700)，所述检测盒(100)内部下方中间安装有测温探头(150)，所述检测盒(100)内部四周安装有铜制导热层(170)，所述铜制导热层(170)外侧安装有加热层(160)。

2.如权利要求1所述的一种碳化硅晶体缺陷的检测装置，其特征在于：两个所述盒门(300)中间分别安装有一个把手(400)，左侧所述盒门(300)正面中间安装有温度显示器(500)。

3.如权利要求2所述的一种碳化硅晶体缺陷的检测装置，其特征在于：所述测温探头(150)与温度显示器(500)和控制器(600)连接，所述控制器(600)与加热层(160)连接，所述加热层(160)由多根绝缘电热丝组合构成。

4.如权利要求3所述的一种碳化硅晶体缺陷的检测装置，其特征在于：两个所述固定夹板(120)右视面均为一种圆形结构，且直径长度，左侧所述固定夹板(120)右侧面以及右侧固定夹板(120)左侧面分别安装有一个防滑软垫。

5.如权利要求4所述的一种碳化硅晶体缺陷的检测装置，其特征在于：所述左推杆(110)左侧通过转动杆与固定轴承(900)内侧连接，所述调节电机(700)通过传动轴与旋转板(130)右侧面连接。

6.如权利要求1所述的一种碳化硅晶体缺陷的检测装置，其特征在于：所述左推杆(110)与右推杆(140)均为一种电动推杆，所述检测口(200)下方安装有照明灯条(800)，所述控制器(600)内提前输入与温度监测阈值。

7.如权利要求1所述的一种碳化硅晶体缺陷的检测装置，其特征在于：两个所述盒门(300)分别通过铰链与检测盒(100)连接，所述调节电机(700)为一种伺服电机。