1.一种半导体测试用手测器，包括测试工作台(1)，其特征在于：所述测试工作台(1)顶部的中心处安装有承载模板(2)，所述承载模板(2)顶部的中心处开设有承载槽(9)，所述测试工作台(1)顶部的左右两侧均安装有载料收纳框(3)，所述测试工作台(1)顶部的后侧固定连接有L型连接板(4)，所述L型连接板(4)顶部的中心处贯穿安装有复位式测试组件(5)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试用手测器，其特征在于：所述复位式测试组件(5)包括内螺纹螺套(504)，所述内螺纹螺套(504)贯穿安装在L型连接板(4)上，所述内螺纹螺套(504)的内腔螺纹连接有位移调节套(501)，所述位移调节套(501)的顶部固定连接有复位弹簧(502)，所述复位弹簧(502)的顶部固定连接有防滑压板(503)。

3.根据权利要求2所述的一种半导体测试用手测器，其特征在于：所述防滑压板(503)底部的中心处且位于位移调节套(501)的内腔固定连接有传动杆(505)，所述传动杆(505)的底部固定连接有引导凸块(506)，所述引导凸块(506)的底部固定安装有测试探针(507)。

4.根据权利要求2所述的一种半导体测试用手测器，其特征在于：所述L型连接板(4)顶部的中心处开设有定位槽(8)，所述内螺纹螺套(504)的外圈通过阻尼轴承与定位槽(8)的连接处活动连接。

5.根据权利要求1所述的一种半导体测试用手测器，其特征在于：所述测试工作台(1)顶部的中心处开设有与承载模板(2)配合使用的安装槽(6)，所述安装槽(6)的内壁和承载模板(2)的顶部均开设有安装孔(10)。

6.根据权利要求1所述的一种半导体测试用手测器，其特征在于：所述测试工作台(1)顶部的左右两侧均开设有与载料收纳框(3)配合使用的放置槽(7)，所述L型连接板(4)的表面贯穿滑动安装有位移板(13)，所述位移板(13)的正表面开设有刻度槽(12)，所述L型连接板(4)的顶部固定安装有指向块(11)。