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专利号: 2023227969691
申请人: 矽驰半导体(珠海)有限公司
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
更新日期:2026-08-04
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种集成电路芯片的外观检测装置,包括工作台(1),其特征在于:所述工作台(1)的表面安装有控制面板(101),所述工作台(1)的一端固定有支撑架(102),所述工作台(1)的表面设置有检测盘(103),所述支撑架(102)的表面安装有摄像头(104),所述摄像头(104)的输入端与控制面板(101)的输出端电性连接,所述摄像头(104)位于检测盘(103)的上方,所述检测盘(103)的表面皆设置有吸附固定机构(2),所述吸附固定机构(2)由吸附固定组件(201)和定位板(202)组成,所述摄像头(104)的外侧设置有照明机构(3),所述照明机构(3)由照明组件(301)、安装板(302)和紧固螺栓(303)组成,所述检测盘(103)的底部设置有步进旋转机构(4),所述步进旋转机构(4)由步进旋转构件(401)和步进电机(402)组成。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片的外观检测装置,其特征在于:所述检测盘(103)的表面沿周向固定有定位板(202),所述定位板(202)的结构为L型结构,所述检测盘(103)的表面皆设置有吸附固定组件(201),所述吸附固定组件(201)位于定位板(202)的一侧。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路芯片的外观检测装置,其特征在于:所述吸附固定组件(201)的内部包括有空腔(2011)、活塞部(2012)、吸附孔(2013)和吹气管(2014),所述检测盘(103)的表面皆开设有吸附孔(2013),所述检测盘(103)的内部沿周向开设有空腔(2011),所述空腔(2011)与吸附孔(2013)相连通。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路芯片的外观检测装置,其特征在于:所述空腔(2011)的内部设置有活塞部(2012),所述活塞部(2012)与空腔(2011)相互滑动配合,所述活塞部(2012)的一端延伸至检测盘(103)的外侧,所述活塞部(2012)的结构类似于注射针管内部的推杆结构,所述活塞部(2012)一端与空腔(2011)内壁的摩擦力较大,所述检测盘(103)的表面沿周向固定有吹气管(2014),所述吹气管(2014)与空腔(2011)相连通,所述吹气管(2014)的另一端位于检测盘(103)的上方。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片的外观检测装置,其特征在于:所述摄像头(104)的外侧设置有照明组件(301),所述照明组件(301)表面的两侧皆固定有安装板(302),所述安装板(302)的表面螺纹连接有紧固螺栓(303),所述紧固螺栓(303)的一端贯穿安装板(302)并与支撑架(102)的表面螺纹紧固。

6.根据权利要求5所述的一种集成电路芯片的外观检测装置,其特征在于:所述照明组件(301)的内部设置有灯架(3011)和灯珠(3012),所述摄像头(104)的外侧设置有灯架(3011),所述灯架(3011)的表面与安装板(302)的表面相固定连接,所述灯架(3011)的底部皆安装有灯珠(3012),所述灯珠(3012)的输入端与控制面板(101)的输出端电性连接。

7.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片的外观检测装置,其特征在于:所述检测盘(103)的底部安装有步进旋转构件(401),所述步进旋转构件(401)通过步进电机(402)进行驱动,所述步进电机(402)的输入端与控制面板(101)的输出端电性连接。

8.根据权利要求7所述的一种集成电路芯片的外观检测装置,其特征在于:所述步进旋转构件(401)的内部包括有推动块(4011)、扇型板(4012)、转盘(4013)、弧型槽(4014)和U型槽(4015),所述步进电机(402)的输出端通过联轴器固定有转轴,所述转轴的表面固定有推动块(4011),所述推动块(4011)的上方设置有扇型板(4012),所述扇型板(4012)与转轴的表面相固定连接。

9.根据权利要求8所述的一种集成电路芯片的外观检测装置,其特征在于:所述检测盘(103)的底部固定有转盘(4013),所述转盘(4013)与工作台(1)的表面相互转动连接,所述转盘(4013)的边缘位置处沿周向开设有四个弧型槽(4014),所述弧型槽(4014)与扇型板(4012)相互配合,所述弧型槽(4014)之间设置有U型槽(4015),所述U型槽(4015)开设在转盘(4013)的表面,所述U型槽(4015)与推动块(4011)相互配合。