1.一种拆卸方便的存储芯片测试装置，其特征在于，包括：芯片测试机构，对芯片进行测试；

芯片拆装机构，对芯片进行拆卸固定；

其中，所述芯片拆装机构包括：转动把手；

连接轴杆，所述连接轴杆的一端固定连接在所述转动把手上；

连接轴心，所述连接轴心连接在所述连接轴杆的另一端；

调节轴杆，所述调节轴杆与所述连接轴心相连接；

转动轴心，所述转动轴心安装在所述调节轴杆的一端；

连接杆，所述连接杆的底端连接在所述转动轴心上；

旋转轴心，所述旋转轴心安装在所述连接杆上，所述连接杆绕着所述旋转轴心进行偏转；

夹持杆，所述夹持杆固定连接在所述连接杆上。

2.如权利要求1所述的一种拆卸方便的存储芯片测试装置，其特征在于，所述芯片拆装机构还包括：安装台；

存储芯片，所述存储芯片放置在所述安装台的上方，所述夹持杆搭接在所述存储芯片的上方。

3.如权利要求1所述的一种拆卸方便的存储芯片测试装置，其特征在于，所述转动轴心穿接通过所述调节轴杆以及所述连接杆，所述调节轴杆以及所述连接杆通过所述转动轴心进行偏转。

4.如权利要求1所述的一种拆卸方便的存储芯片测试装置，其特征在于，所述芯片测试机构包括：固定台；

驱动电机，所述驱动电机安装在所述固定台的上方；

液压伸缩杆，所述液压伸缩杆连接在所述驱动电机的下方；

活动轴心，所述液压伸缩杆的底端连接在所述活动轴心上；

偏转轴块，所述偏转轴块连接在所述活动轴心上；

测试头，所述测试头连接在所述偏转轴块上。

5.如权利要求4所述的一种拆卸方便的存储芯片测试装置，其特征在于，所述偏转轴块与所述液压伸缩杆之间通过所述活动轴心进行偏转。

6.如权利要求4所述的一种拆卸方便的存储芯片测试装置，其特征在于，所述芯片测试机构还包括：支撑杆，所述支撑杆固定连接在所述固定台的下方，所述支撑杆支撑所述固定台；

调节块；

滑动槽，所述滑动槽开设在所述调节块的下方，所述调节块在所述滑动槽上进行移动。