1.一种用于电芯片尺寸测量的装置，其特征在于，所述装置包括：测量装置机架(100)，以及所述测量装置机架(100)顶端滑动设置的两个对称用于压紧检测平台(300)的压紧结构(400)；所述检测平台(300)设置于所述压紧结构(400)之间；所述测量装置机架(100)的后侧还固定设置有用于测量电芯片尺寸的CCD组件(200)。

2.根据权利要求1所述的一种用于电芯片尺寸测量的装置，其特征在于，所述CCD组件(200)包括：竖向支撑柱(201)，以及所述竖向支撑柱(201)顶端固定连接用于测量的横向测量箱(202)；

所述检测平台(300)顶端开设有工件放置槽(301)。

3.根据权利要求2所述的一种用于电芯片尺寸测量的装置，其特征在于，所述横向测量箱(202)的内部固定设置有CCD拍照结构(201c)，所述横向测量箱(202)的底端还开设有拍照通孔(202b)；

所述工件放置槽(301)的内部固定设置有背光源板(302)，所述拍照通孔(202b)的外侧固定设置有面光板(202a)。

4.根据权利要求3所述的一种用于电芯片尺寸测量的装置，其特征在于，所述CCD拍照结构(201c)包括：横向杆(201c‑1)，以及所述横向杆(201c‑1)的一端固定连接的工业相机(201c‑2)；

所述横向杆(201c‑1)的另一端穿过横向测量箱(202)与竖向支撑柱(201)的一侧固定连接，所述横向杆(201c‑1)位于横向测量箱(202)的内部。

5.根据权利要求2或4所述的一种用于电芯片尺寸测量的装置，其特征在于，所述竖向支撑柱(201)的一侧还设置有压紧平台(201a)，所述压紧平台(201a)的内部开设有方形通槽，所述方形通槽位于拍照通孔(202b)的正下方。

6.根据权利要求5所述的一种用于电芯片尺寸测量的装置，其特征在于，所述竖向支撑柱(201)的一侧还固定设置有调节限位结构(201b)，所述调节限位结构(201b)位于所述压紧平台(201a)的下方。

7.根据权利要求1所述的一种用于电芯片尺寸测量的装置，其特征在于，所述压紧结构(400)的顶端固定连接有显示组件(500)，所述显示组件(500)包括：底座，以及和所述底座上端固定设置的显示器。

8.根据权利要求1所述的一种用于电芯片尺寸测量的装置，其特征在于，所述测量装置机架(100)的一侧还转动设置有至少两个机架箱门(101)，所述机架箱门(101)的一侧固定连接有把手。

9.根据权利要求1或8所述的一种用于电芯片尺寸测量的装置，其特征在于，所述测量装置机架(100)的底端固定设置有四个移动组件(102)，所述移动组件(102)包括：安装盘，以及和所述安装盘底端固定连接的支撑柱、滚轮。