1.一种CPU芯片在板测试的Socket测试座，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)上端中部固定安装有控制组件(2)，所述底座(1)上端前部和上端后部均固定连接有底板(3)，两个所述底板(3)上端左部和上端右部均固定连接有升降组件(4)，所述控制组件(2)上端和四个升降组件(4)上端共同固定连接有固定座(5)，所述固定座(5)上端中部固定安装有测试座本体(6)，所述底座(1)上端右部固定连接有安装座(7)，所述安装座(7)上端中部固定安装有防尘组件(8)，所述底座(1)上端左部固定连接有两个支撑杆(9)，两个所述支撑杆(9)上端均固定连接有限位块(10)；

所述防尘组件(8)包括第二电动推杆(81)，所述第二电动推杆(81)的输出端固定安装有固定杆(82)，所述固定杆(82)左端固定连接有防尘框(83)，所述防尘框(83)内壁面上部嵌有防尘网(84)，所述防尘框(83)左端前部和左端后部均固定连接有滑块(85)，所述第二电动推杆(81)的下端与安装座(7)的上端固定连接。

2.根据权利要求1所述的一种CPU芯片在板测试的Socket测试座，其特征在于：所述控制组件(2)包括底块(21)，所述底块(21)上端固定安装有第一电动推杆(22)，所述第一电动推杆(22)的输出端固定安装有顶块(23)，所述顶块(23)上端固定连接有固定块(24)，所述底块(21)的下端与底座(1)的上端固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种CPU芯片在板测试的Socket测试座，其特征在于：所述升降组件(4)包括底筒(41)，所述底筒(41)下内壁面固定连接有伸缩杆(42)和弹簧(43)，所述伸缩杆(42)上端和弹簧(43)上端共同固定连接有顶筒(44)，所述底筒(41)的下端与对应的底板(3)的上端固定连接。

4.根据权利要求3所述的一种CPU芯片在板测试的Socket测试座，其特征在于：所述伸缩杆(42)位于对应的弹簧(43)内且与对应的弹簧(43)的内壁面存在空隙，所述伸缩杆(42)的上端和弹簧(43)的上端均与对应的顶筒(44)的上内壁面固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种CPU芯片在板测试的Socket测试座，其特征在于：两个所述滑块(85)的内壁面分别与对应的两个支撑杆(9)的外表面滑动连接，所述防尘框(83)位于测试座本体(6)的正上方。