1.一种电子元件放置盘及通电测试装置，其特征在于，包括：放料盘(1)及测试盘(2)，所述放料盘(1)包括限位盘(11)和底盘(12)，所述限位盘(11)底部设置有连接块(112)，所述底盘(12)上开设有第一连接孔(122)，所述限位盘(11)和底盘(12)之间通过连接块(112)配合第一连接孔(122)拼接，所述限位盘(11)上设置有放料槽(111)，所述放料槽(111)内底部设置有针脚限位孔(1111)，所述测试盘(2)上设置有测试工位(21)，所述测试工位(21)与放料槽(111)位置数量对应，所述测试工位(21)上设置有针脚孔(211)，所述测试工位(21)上设置有针脚孔(211)与放料槽(111)内设置的针脚限位孔(1111)的孔位置对应。

2.根据权利要求1所述的电子元件放置盘及通电测试装置，其特征在于，所述测试盘(2)两侧设置有电源线(24)，所述测试工位(21)上的针脚孔(211)外部设置有通电底座(212)，所述通电底座(212)底部连接有通电线(213)，所述通电线(213)一侧连接有连接线(25)，所述连接线(25)连接电源线(24)。

3.根据权利要求1所述的电子元件放置盘及通电测试装置，其特征在于，所述连接块(112)内开设有伸缩槽(1121)，所述伸缩槽(1121)内活动连接有弧形卡块(1122)，所述弧形卡块(1122)与伸缩槽(1121)底壁之间安装有复位弹簧(1123)。

4.根据权利要求1所述的电子元件放置盘及通电测试装置，其特征在于，所述测试盘(2)顶部两侧开设有第二连接孔(22)，所述第一连接孔(122)与第二连接孔(22)均为L形，所述底盘(12)两侧设置有第一推杆(123)，所述第一推杆(123)内侧活动设置于第一连接孔(122)内，所述测试盘(2)两侧设置有第二推杆(23)，所述第二推杆(23)内侧活动设置于第二连接孔(22)内。

5.根据权利要求2所述的电子元件放置盘及通电测试装置，其特征在于，所述针脚孔(211)顶部呈上大下小的漏斗形。

6.根据权利要求1所述的电子元件放置盘及通电测试装置，其特征在于，所述底盘(12)上设置有放置槽(121)。