1.一种电子元件测试装置，包括底座(1)，所述底座(1)上端中部固定安装有测试板(2)，所述测试板(2)上端固定连接有若干均匀分布的探针(3)，所述探针(3)与测试板(2)电性连接，所述测试板(2)上方设置有放置板(4)，所述放置板(4)中部开有若干与探针(3)配合的通孔(5)，所述放置板(4)上方设置有压板(6)，其特征在于：所述压板(6)上方设置有移动板(7)，所述压板(6)与移动板(7)之间通过四角固定有阻尼杆(8)连接，所述阻尼杆(8)外侧套接有弹簧一(9)，所述弹簧一(9)上下端分别固定连接于压板(6)和移动板(7)上，所述压板(6)下端固定连接有硅胶垫(23)；

所述移动板(7)通过驱动结构向下移动，使得压板(6)将放置板(4)向下压，电子元件跟随被探针(3)测试，所述驱动结构由电机(10)驱动。

2.根据权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于：所述移动板(7)上方设置有固定板(11)，所述底座(1)上端后部与固定板(11)通过固定有连接板(12)连接，所述固定板(11)两侧均固定连接有固定筒(13)，所述固定筒(13)上下端均穿过固定板(11)，所述固定筒(13)内滑动连接有移动杆(14)，所述移动杆(14)上下端均穿过固定筒(13)延伸至其外部，所述移动杆(14)下端固定连接于移动板(7)上。

3.根据权利要求2所述的电子元件测试装置，其特征在于：所述驱动结构包括固定连接于两侧移动杆(14)相近侧上端的驱动轴(15)，所述驱动轴(15)上滑动套接有驱动筒(16)，所述驱动筒(16)后端固定连接有插轴(17)，所述插轴(17)后部轴承连接有驱动杆(18)。

4.根据权利要求3所述的电子元件测试装置，其特征在于：所述固定板(11)于驱动筒(16)后方的上端固定连接有电机架(19)，所述电机(10)固定连接于电机架(19)后端，所述电机(10)的输出轴固定连接于驱动轴(15)远离插轴(17)的一端。

5.根据权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于：所述放置板(4)四角均滑动连接有固定连接于底座(1)上的固定杆(20)，所述固定杆(20)外侧套接有弹簧二(21)，所述弹簧二(21)上下端分别固定连接于放置板(4)和底座(1)上，所述固定杆(20)固定连接于底座(1)上。

6.根据权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于：所述放置板(4)上端固定连接有与电子元件形状配合的边框(22)，所述通孔(5)设置于边框(22)内，所述边框(22)内侧四周开有若干扣取槽，配合将电子元件扣出。

7.根据权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于：所述探针(3)和通孔(5)均呈矩阵排列，二者数量和分布位置均相同，所述探针(3)的直径略小于通孔(5)的直径。