1.一种测试用天线的位置校准装置，其特征在于，包括测试屏蔽箱和设于所述测试屏蔽箱内的干扰信号发射天线、位置测量天线和位置调节机构，所述位置调节机构包括第一位置调节装置和第二位置调节装置，所述干扰信号发射天线和所述位置测量天线分别通过所述第一位置调节装置和所述第二位置调节装置安装于所述测试屏蔽箱内部的同一个内侧壁或者不同内侧壁上。

2.如权利要求1所述的测试用天线的位置校准装置，其特征在于，所述第一位置调节装置和所述第二位置调节装置分别包括一个滑轨、一个可拆卸的移动电机、一个位置锁定机构和一个设备安装支架，所述移动电机带动所述设备安装支架沿所述滑轨移动，所述位置锁定机构用于锁定所述设备安装支架的位置，使所述设备安装支架不再移动。

3.如权利要求2所述的测试用天线的位置校准装置，其特征在于，所述第二位置调节装置的设备安装支架包括设备装夹治具和摆动电机，所述摆动电机设于所述设备装夹治具的下方，所述摆动电机用于控制所述设备装夹治具以预定角度摆动。

4.如权利要求1所述的测试用天线的位置校准装置，其特征在于，还包括信号发生设备、校准设备和工控机，所述信号发生设备电性连接至所述干扰信号发射天线，所述校准设备电性连接至所述位置测量天线；所述信号发生设备用于依据所述工控机输出的参数值生成目标干扰频谱，所述校准设备用于接收并解析所述位置测量天线接收到的干扰信号，以得到干扰信号频谱；所述工控机电性连接至所述信号发生设备和所述校准设备，所述工控机用于生成所述信号发生设备产生的干扰信号的参数值，使干扰信号满足测试需要。

5.如权利要求4所述的测试用天线的位置校准装置，其特征在于，所述信号发生设备包括依次连接的信号发生器、信号滤波器和信号放大器，所述信号放大器的输出端连接至所述干扰信号发射天线，所述信号发生设备用于生成具有可调参数值的干扰信号。

6.如权利要求5所述的测试用天线的位置校准装置，其特征在于，所述信号发生器的信号输出端连接至所述信号滤波器的信号输入端，所述信号滤波器用于对所述信号发生器生成的原始干扰信号进行频段选择，并滤除原始干扰信号中的干扰噪声。

7.如权利要求5所述的测试用天线的位置校准装置，其特征在于，所述信号滤波器的信号输出端连接至所述信号放大器的信号输入端，所述信号放大器将前级设备发送的原始干扰信号进行功率放大，以获得足够的射频输出功率，便于通过干扰信号发射天线馈送出去。

8.如权利要求4所述的测试用天线的位置校准装置，其特征在于，所述校准设备包括监测频谱仪，所述监测频谱仪的信号输入端连接至所述位置测量天线，所述位置测量天线用于全频段覆盖接收所述测试屏蔽箱内的干扰信号。

9.如权利要求8所述的测试用天线的位置校准装置，其特征在于，所述监测频谱仪的信号输出端连接至所述工控机，所述监测频谱仪解析所述位置测量天线采集到的干扰信号的频谱结构，并发送至所述工控机。

10.如权利要求1所述的测试用天线的位置校准装置，其特征在于，所述测试屏蔽箱采用吸波材料，以减少所述测试屏蔽箱内部和外部的电磁波的干扰。