1.一种抗干扰测试设备校准装置，用于抗干扰测试设备的频谱校准和天线位置校准，其特征在于，包括测试屏蔽箱、信号发生设备、校准设备和工控机：其中，所述测试屏蔽箱内设有干扰信号发射天线、频谱监测天线和位置测量天线，所述测试屏蔽箱用于模拟无线信号传输环境，使无线接收设备的抗干扰测试不受外界电磁信号的干扰；

所述工控机连接至所述信号发生设备和所述校准设备，所述工控机用于生成所述信号发生设备产生的干扰信号的参数值，使干扰信号满足测试需要；

所述信号发生设备用于依据所述工控机输出的参数值生成目标干扰频谱，并通过所述干扰信号发射天线发送出去；

所述校准设备用于解析由所述频谱监测天线和所述位置测量天线接收到的干扰信号，以得到所述测试屏蔽箱内的干扰信号频谱。

2.如权利要求1所述的抗干扰测试设备校准装置，其特征在于，所述信号发生设备包括依次连接的信号发生器、信号滤波器和信号放大器，所述信号发生器的控制端连接至所述工控机，所述信号放大器的输出端连接至所述干扰信号发射天线，所述信号发生器生成目标干扰频谱，经所述信号滤波器滤除信号中的噪声，并经所述信号放大器对信号进行功率放大后，发送至所述干扰信号发射天线发送出去。

3.如权利要求1所述的抗干扰测试设备校准装置，其特征在于，所述校准设备包括第一频谱仪和第二频谱仪，所述第一频谱仪的输入端电性连接至所述频谱监测天线，所述第二频谱仪的输入端电性连接至所述位置测量天线，所述第一频谱仪和所述第二频谱仪的输出端电性连接至所述工控机。

4.如权利要求1所述的抗干扰测试设备校准装置，其特征在于，所述测试屏蔽箱内还设有第一移动平台和第二移动平台，所述第一移动平台和所述第二移动平台设于所述测试屏蔽箱内的同一个内侧壁或者不同的内侧壁上，所述干扰信号发射天线和所述频谱监测天线设于所述第一移动平台上，所述位置测量天线设于所述第二移动平台上，所述第一移动平台和所述第二移动平台分别带动所述干扰信号发射天线、所述频谱监测天线和所述位置测量天线移动。

5.如权利要求4所述的抗干扰测试设备校准装置，其特征在于，所述第一移动平台包括第一滑轨、第一移动电机、第一位置锁定机构和设备安装支架，所述第一移动电机可拆卸地安装于所述第一滑轨的一端，所述第一移动电机用于带动所述设备安装支架沿着所述第一滑轨移动，所述干扰信号发射天线和所述频谱监测天线并列安装于所述设备安装支架上，所述第一位置锁定机构用于锁死所述设备安装支架，使校准完成后的所述设备安装支架的位置不再移动。

6.如权利要求5所述的抗干扰测试设备校准装置，其特征在于，所述第二移动平台包括第二滑轨、第二移动电机、第二位置锁定机构和设备装夹治具，所述第二移动电机可拆卸地安装于所述第二滑轨的一端，所述第二移动电机用于带动所述设备装夹治具沿着所述第二滑轨移动，所述位置测量天线安装于所述设备装夹治具上，所述第二位置锁定机构用于锁死所述设备装夹治具，使校准完成后的所述设备装夹治具的位置不再移动。

7.如权利要求6所述的抗干扰测试设备校准装置，其特征在于，所述设备装夹治具的下方设有摆动电机，所述摆动电机用于所述设备装夹治具以预定角度摆动，以模拟待测试设备在使用时的状态。

8.如权利要求7所述的抗干扰测试设备校准装置，其特征在于，所述第一移动电机、所述第二移动电机和所述摆动电机连接至所述工控机，所述工控机分别向所述第一移动电机、所述第二移动电机和所述摆动电机下发操作指令。

9.如权利要求1所述的抗干扰测试设备校准装置，其特征在于，所述测试屏蔽箱包括上半部分箱体和下半部分箱体，所述上半部分箱体与所述下半部分箱体之间通过连接件活动连接，所述上半部分箱体与所述下半部分箱体盖合后，所述测试屏蔽箱内部形成密闭的测试腔体。

10.如权利要求1所述的抗干扰测试设备校准装置，其特征在于，所述测试屏蔽箱采用吸波材料，以减少所述测试屏蔽箱内部和外部的电磁波的干扰。