1.一种便于上料的半微量分析天平，包括半微量分析天平（1），其特征在于：所述半微量分析天平（1）包括测量机构（2）、电源箱体（3）、控制机构（4），所述测量机构（2）的底部转动连接有调节丝杆（6），所述电源箱体（3）的侧面固定设有驱动电机（5），且驱动电机（5）与调节丝杆（6）固定连接，所述调节丝杆（6）的外表面螺纹连接有螺纹套（7），所述螺纹套（7）的外表面固定设有连接块（8），所述连接块（8）的另一端固定设有固定滑套（10），所述测量机构（2）的底部固定设有固定滑杆（9），且固定滑杆（9）与固定滑套（10）滑动连接，所述螺纹套（7）的外表面固定设有延伸板（11），所述延伸板（11）的另一端固定设有侧面板（12），所述测量机构（2）的顶部设有安装架（14），且安装架（14）与侧面板（12）滑动连接。

2.根据权利要求1所述的一种便于上料的半微量分析天平，其特征在于：所述安装架（14）的正表面滑动连接有前面板（15），所述测量机构（2）的顶部一侧嵌入有磁铁块（16），且磁铁块（16）设置在前面板（15）的正下方。

3.根据权利要求1所述的一种便于上料的半微量分析天平，其特征在于：所述驱动电机（5）、调节丝杆（6）、螺纹套（7）、连接块（8）、固定滑杆（9）、固定滑套（10）、延伸板（11）、侧面板（12）均设有两个，且均对称设置。

4.根据权利要求1所述的一种便于上料的半微量分析天平，其特征在于：所述控制机构（4）上设有左右两个驱动控制键，且驱动控制键分别控制驱动电机（5）驱动。

5.根据权利要求2所述的一种便于上料的半微量分析天平，其特征在于：所述电源箱体（3）的侧面设有支撑滑轨（13），且支撑滑轨（13）的内底部与侧面板（12）的底部贴合设置。

6.根据权利要求2所述的一种便于上料的半微量分析天平，其特征在于：所述侧面板（12）、前面板（15）的内部均设有透明玻璃板。

7.根据权利要求2所述的一种便于上料的半微量分析天平，其特征在于：所述前面板（15）的下部正表面设有活动把手（17），且活动把手（17）的外表面设有防滑套。