1.一种质量测定用精密电子分析天平，包括电子分析天平本体(9)、底板(6)，其特征在于，所述底板(6)的上侧固定连接有电子分析天平本体(9)，所述底板(6)的两侧壁上均开设有收纳槽(3)，每个所述收纳槽(3)均通过滑动装置连接有收纳箱(7)，所述收纳箱(7)滑动连接在收纳槽(3)中，所述收纳箱(7)的内部固定连接有多个依次等距设置的隔板(12)，所述收纳箱(7)的底侧壁上设有防潮层(11)。

2.根据权利要求1所述的一种质量测定用精密电子分析天平，其特征在于，每个所述滑动装置包括两个固定板(5)，两个所述固定板(5)均固定连接在收纳槽(3)的内部底侧壁上，两个所述固定板(5)之间固定连接有两个固定杆(4)，两个所述固定杆(4)上滑动连接有滑动板(1)，每个所述收纳箱(7)底侧一端固定连接在对应的滑动板(1)上侧。

3.根据权利要求1所述的一种质量测定用精密电子分析天平，其特征在于，每个所述收纳箱(7)的侧壁上固定连接有把手(8)。

4.根据权利要求3所述的一种质量测定用精密电子分析天平，其特征在于，每个所述把手(8)呈弧形设置。

5.根据权利要求1所述的一种质量测定用精密电子分析天平，其特征在于，所述底板(6)的底侧壁上固定连接有多个支撑垫(2)，多个所述支撑垫(2)均采用橡胶材质。

6.根据权利要求1所述的一种质量测定用精密电子分析天平，其特征在于，所述电子分析天平本体(9)上设有防风罩(10)。