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专利号: 202221419396X
申请人: 济南鲁晶半导体有限公司
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
更新日期:2025-12-01
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种TO‑220封装三极管的测试装料装置,包括主体框架(1),其特征在于:

所述主体框架(1)的上方设置有进料装置(2),进料装置(2)的出料口处连接竖直朝下的测试行进轨道(3),测试行进轨道(3)安置在主体框架(1)的中心处,测试行进轨道(3)的侧边安装测试装置(4),测试装置(4)连接设置在主体框架(1)上的侧视仪表(7),测试行进轨道(3)的下方连接不良品检出装置(5),不良品检出装置(5)的下方连接装料装置(6)。

2.根据权利要求1所述TO‑220封装三极管的测试装料装置,其特征在于:

所述进料装置(2)包括进料管架(201),进料管架(201)中竖直并排放置若干TO‑220封装三极管,在进料管架(201)的一侧安装有进料气泵(202),进料气泵(202)的进料气泵推杆(203)伸入到进料管架(201)中并连接有进料顶板(204),在进料管架(201)的底部一侧设置出料口,出料口下方连接测试行进轨道(3)。

3.根据权利要求2所述TO‑220封装三极管的测试装料装置,其特征在于:

所述测试行进轨道(3)为两组平行的皮带传送机构,两个皮带传送机构夹持着TO‑220封装三极管向下移动,测试行进轨道(3)的侧边设置有测试装置(4)。

4.根据权利要求3所述TO‑220封装三极管的测试装料装置,其特征在于:

所述测试装置(4)包括安装在主体框架(1)上的测试座(401),测试座(401)的一侧连接有两排测试顶头连接片(402),两排测试顶头连接片(402)的端部连接测试顶头(403),测试顶头(403)置于测试行进轨道(3)的两侧,其中一侧的测试顶头(403)旁设置有测试气泵(404)。

5.根据权利要求1所述TO‑220封装三极管的测试装料装置,其特征在于:

所述不良品检出装置(5)包括连接在测试行进轨道(3)下方的不良品检出槽(501),不良品检出槽(501)的一侧连接不良品检出气泵(502),不良品检出气泵(502)的不良品检出气泵推杆(503)的端部连接不良品检出顶板(504),不良品检出槽(501)的另一侧下方设置有不良品接料盒(505),不良品检出槽(501)的下方设置有装料装置(6)。

6.根据权利要求5所述TO‑220封装三极管的测试装料装置,其特征在于:

所述装料装置(6)包括装料管架(601),装料管架(601)的一侧设置有装料气泵(602),装料气泵(602)的装料气泵推杆(603)伸入到装料管架(601)中并连接有装料顶板(604)。