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专利号: 2022113911017
申请人: 广东艾斯谱光电科技有限公司
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2026-10-10
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种MINI LED发光检测方法,其特征在于,包括:基于预设规则确定背光模组中的一发光芯片作为待测发光芯片;

获取待测发光芯片在检测区域的待测坐标值,获取感光元件的感光区域的中心坐标值;

基于所述待测坐标值和所述中心坐标值调整所述感光元件的位置;

对所述待测发光芯片输入第一预设电流;

通过所述感光元件检测所述待测发光芯片的发光区域的第一灰阶值;

获取多个所述待测发光芯片的所述第一灰阶值,计算各所述第一灰阶值得到第一灰阶均值;

计算各所述待测发光芯片的所述第一灰阶值与所述第一灰阶均值的差值,获得第一波动值;

检测所述第一波动值是否大于第一波动阈值,当所述第一波动值大于所述第一波动阈值,则输出第一灰阶标记信息,当所述第一波动值小于或等于所述第一波动阈值,则输出第一确认信息。

2.根据权利要求1所述的MINI LED发光检测方法,其特征在于,所述通过所述感光元件检测所述待测发光芯片的发光区域的第一灰阶值的步骤包括:通过所述感光元件检测所述待测发光芯片的发光区域的第一面积;

检测所述第一面积是否大于第一参考面积;

当所述第一面积小于所述第一参考面积,则输出第一面积标记信息,当所述第一面积大于或等于所述第一参考面积,则输出第二确认信息。

3.根据权利要求2所述的MINI LED发光检测方法,其特征在于,所述通过所述感光元件检测所述待测发光芯片的发光区域的第一灰阶值的步骤之后还包括:对所述待测发光芯片输入第二预设电流;

通过所述感光元件检测所述待测发光芯片的发光区域的第二面积;

检测所述第二面积与所述第一面积之比是否与预设比例系数匹配,当所述第二面积与所述第一面积之比与所述预设比例系数匹配时,则维持输出第三确认信息;当所述第二面积与所述第一面积之比与所述预设比例系数不匹配时,则根据所述第二面积与所述第一面积之比与所述预设比例系数之间的差值幅度,调整所述第二预设电流,得到第三预设电流;

通过所述感光元件检测所述待测发光芯片的发光区域的第三面积;检测所述第三面积与所述第一面积之比是否与预设比例系数匹配,当所述第三面积与所述第一面积之比与所述预设比例系数匹配时,则维持输出第四确认信息;当所述第三面积与所述第一面积之比与所述预设比例系数不匹配时,则输出第二面积标记信息。

4.根据权利要求3所述的MINI LED发光检测方法,其特征在于,所述第二预设电流大于所述第一预设电流。

5.根据权利要求3所述的MINI LED发光检测方法,其特征在于,还包括:基于所述第二预设电流与所述第一预设电流计算获得所述预设比例系数。

6.根据权利要求3所述的MINI LED发光检测方法,其特征在于,所述通过所述感光元件检测所述待测发光芯片的发光区域的第二面积的步骤包括:通过所述感光元件检测所述待测发光芯片的发光区域的第二面积和第二灰阶值;

获取多个所述待测发光芯片的所述第二灰阶值,计算各所述第二灰阶值得到第二灰阶均值;

计算各所述待测发光芯片的所述第二灰阶值与所述第二灰阶均值的差值,获得第二波动值;

检测所述第二波动值是否大于第二波动阈值,当所述第二波动值大于所述第二波动阈值,则输出第二灰阶标记信息,当所述第二波动值小于或等于所述第二波动阈值,则输出第五确认信息。

7.根据权利要求1所述的MINI LED发光检测方法,其特征在于,所述基于预设规则确定背光模组中的一发光芯片作为待测发光芯片的步骤包括:获取所述背光模组的型号编码;

基于所述背光模组的型号编码,获取与所述背光模组的型号编码对应的芯片布局;

基于所述芯片布局获取测试顺序,基于所述测试顺序确定背光模组中的一所述发光芯片作为所述待测发光芯片。

8.根据权利要求7所述的MINI LED发光检测方法,其特征在于,所述获取所述背光模组的型号编码的步骤包括:在所述背光模组接入电源时,检测所述背光模组上预设电阻的阻值;

根据所述背光模组上所述预设电阻的阻值获取所述背光模组的型号编号。

9.根据权利要求1‑8任一项中所述的MINI LED发光检测方法,其特征在于,所述输出第一标记信息的步骤之后还包括:检测所述第一标记信息所对应的所述待测发光芯片的数量是否大于预设数量,当所述第一标记信息所对应的所述待测发光芯片的数量是否大于所述预设数量时,则发出提示信息。

10.一种MINI LED发光检测系统,其特征在于,采用权利要求1‑9任一项中所述的MINI LED发光检测方法对MINI LED进行发光检测。