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专利号: 2022110544162
申请人: 千纳微电子技术(南通)有限公司(CN)
专利类型:发明专利
专利状态:授权未缴费
更新日期:2025-07-12
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.PCB蚀刻剂浓度调整装置,包括搅拌机构和设置在搅拌机构上的体积测量机构和下料机构,其特征在于:搅拌机构包括搅拌罐、驱动机构和往复运动组件,搅拌罐的一侧下方设置有内外贯通的进出管,搅拌罐的外壁下方设置有浓度测量设备;

驱动机构包括固定连接在搅拌罐底部的电机,电机的输出端固定连接有延伸至搅拌罐内部的驱动轴,驱动轴的顶部滑动连接有第一限位轴,第一限位轴的顶部固定连接有转动轴,转动轴的外壁上固定连接有固定环,固定环的外壁上均匀分布有搅拌叶;

往复运动组件包括均匀分布在搅拌罐内壁上的固定杆,固定杆的另一端固定连接有壳体,壳体的内部活动设置有活动轴,转动轴的顶部延伸至壳体的内部并与活动轴固定连接,活动轴的外壁上设置有环形槽,壳体的内壁上固定连接有固定轴,且固定轴的另一端延伸至环形槽内,活动轴的顶部固定连接有延伸至壳体外部的第二限位轴,壳体的顶部转动连接有与第二限位轴相对应的转动环,且转动环与第二限位轴滑动连接;体积测量机构包括测量组件和升降组件,测量组件包括固定连接在搅拌罐内壁上的导向杆,导向杆上滑动连接有锥形板,锥形板的顶部外缘固定连接有密封环,锥形板和密封环与搅拌罐的内壁贴合,锥形板的顶部中间固定连接有套筒,套筒的内侧设置有活动槽;

升降组件包括固定连接在搅拌罐顶部的连接板,连接板的内侧固定连接有支撑台,支撑台的顶部设有积液槽,测量组件还包括分别固定连接在连接板和支撑台底部的第二超声波测距仪和第一超声波测距仪,密封环的顶部固定连接有与第二超声波测距仪相对应的反射板。

2.如权利要求1所述的PCB蚀刻剂浓度调整装置,其特征在于:升降组件还包括固定连接在套筒外壁上的固定架,固定架的内壁上固定连接有第一伸缩气缸,第一伸缩气缸的输出端延伸至套筒的内部并连接有夹板,且夹板与活动槽相对应。

3.如权利要求2所述的PCB蚀刻剂浓度调整装置,其特征在于:第一伸缩气缸输出端的外壁上固定连接有滑杆,滑杆与固定架滑动连接,滑杆的另一端固定连接有与搅拌罐内壁相对应的摩擦片。

4.如权利要求3所述的PCB蚀刻剂浓度调整装置,其特征在于:升降组件还包括滑动连接在第二限位轴顶部的传动轴,传动轴的顶部固定连接有丝杆,夹板内侧设置有与丝杆相对应的螺纹槽,升降组件还包括设置在丝杆外部的浮块,且浮块位于套筒的内部,浮块的位置与第一超声波测距仪相对应。

5.如权利要求4所述的PCB蚀刻剂浓度调整装置,其特征在于:下料机构包括下料组件和联动组件,下料组件包括转动连接在支撑台顶部的原料筒,原料筒的顶部设置有密封盖,原料筒的内部均匀分布有隔板。

6.如权利要求5所述的PCB蚀刻剂浓度调整装置,其特征在于:原料筒的外壁上均匀分布有溶液出口,原料筒的外缘固定连接有支撑板,支撑板上滑动连接有溶液盒,溶液盒的内侧设置有与溶液出口相对应的溶液进口,溶液盒的外壁上固定连接有固定块,溶液盒的外壁上还设有滑槽,滑槽内均匀分布有与溶液盒内部连通的溶液出孔,支撑板上固定连接有与滑槽相对应的滑块,滑块的另一端固定连接有出液管。

7.如权利要求6所述的PCB蚀刻剂浓度调整装置,其特征在于:联动组件包括设置在支撑台底部的连通孔,且连通孔与积液槽相连通,联动组件还包括转动连接在支撑台上的联动杆,且联动杆与丝杆固定连接,联动杆的顶部固定连接有伞齿轮。

8.如权利要求7所述的PCB蚀刻剂浓度调整装置,其特征在于:联动组件还包括固定连接在原料筒底部的第二伸缩气缸,第二伸缩气缸的输出端固定连接有与伞齿轮相对应的啮合轮,支撑台的顶部固定连接有与溶液盒相对应的第三伸缩气缸。